山西大同大学机电工程学院17届本科生
??B2?B4??6?B
600
??B3?B6??6?C
900
??B3?B6??D
900
答案及解析：A 当X?3N时，在锻件上选定三处有代表性部位（完好部位）测出第一次底波B1和第二次底波B2的波高分贝值。
??B1?B2?6?dB/mm?2X
当 X?3N，
??Bn?Bm?63N?dB/mm?n?2?m?n?XT，m?2n ，且
式中：X单程声程（厚度或直径）
7．按JB/T 4730-2005标准规定，对厚为40mm的钢板进行超声波检测时，检测灵敏度为（B）
A．用5MHz双晶直探头在CBⅠ改试块上调节40mm底波
B． 用5MHz?20单晶直探头在CBⅡ试块将?5平底孔第一次反射波调节至满刻度50%
Hz?20单晶直探头在CBⅡ试块将?5平底孔第一次反射波调节至满刻C．用2.5M度50%
D．以钢板第五次底波调至50%
D．锻件厚度大于400mm时，应从相互平行的相对面进行检测
答案及解析：B 依据JB/T4730.3-2005标准承压设备用原材料、零部件的超声检测和质量分级—承压设备用钢板超声检测和质量分级—表1承压设备用板材超声检测探头选用，当板厚为?20~40时，采用单晶直探头，公称频率为5MHz，
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山西大同大学机电工程学院17届本科生
探头晶片尺寸为?14~?20mm，依据JB/T4730.3-2005标准承压设备用原材料、零部件的超声检测和质量分级—承压设备用钢板超声检测和质量分级—基准灵敏度，当板厚大于20mm时，应将CBⅡ试块?5平底孔第一次反射波高调整到满刻度50%，作为基准灵敏度。
8．探测1米厚的钢制工件，用2.5MHz直探头，用底波调节仪器探伤灵敏度，当量缺陷?2，则衰减器调节量为（B）
A．35dB B．51.4?1dB C．47dB
D．?2/300试块反射波基准波高再增益41dB
答案及解析：B 依据GB/T 6402—2008钢锻件超声检测方法，
???C5900?mm??2.36?mm??3f2.5?10
?1,2计算出工件大平底与所需求的灵敏度之间的分贝差
??1,2?20lgPB2?2.36?1000?dB??20lg2?x??dB?20lg?51.50?dB?22P??D?3.14?2
式中：钢中声束C?5900m/s
PB从大平底返回到晶片的回波声压 Pf从平底孔返回到晶片的回波声压
x—大平底至探测面的距离因此，
Df—平底孔的当量直径
9．GB/T 6402-2008标准规定底波降低系数的概念，试计算R?0.5的底波降低量为（B）
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A．3dB B．6dB C．10dB D．12dB
答案及解析：B 探测条件（FS、?）一定时，大平底的回波声压与声程成反比。
?1,2?20lgPB1x?20lg2PB2x1两个不同距离的，大平底面回波分贝差：
?1,2?20lg大平底距声源
距离增大1倍时，代入上式进行计算回波声压下降6dB。 式中：
PB1—大平底孔1的回波声压 PB2—大平底孔2的回波声压
x1—打平底孔1距声源（晶片）的距离
PB1x?20lg2?20lg2?6dBPB2x1，其
x2—打平底孔1距声源（晶片）的距离
10．按JB4730《承压设备无损检测》（报批稿）规定：对锻钢件进行超声波时可用底波调节灵敏度的条件为（A）
A．底面和探测面平行，被检测部位厚度大于等于3N B．底面和探测面平行，被检测部位厚度大于等于600mm C．底面和探测面平行，被检测部位厚度大于3N D．底面和探测面平行，被检测部位厚度大于600mm
答案及解析：A 依据JB/T4730.3-2005标准承压设备用原材料、零部件的超声检
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测和质量分级-承压设备用钢板超声检测和质量分级-基准灵敏度 板厚不小于探头的三倍近场区时，也可取钢板无缺陷完好部位的第一次底波来校准灵敏度，其结果应与4.1.4.2的要求相一致。
11．根据GB/T 6402-2008标准规定，关于长条延伸性缺陷下列说法哪项是不正确的（B）
A．缺陷连续回波高度至少在一个方向上不得低于质量等级规定起始记录当量值 B．延伸尺寸时不必考虑探头声域特性（声束直径）的影响而进行修正 C．缺陷长度是指缺陷在声程处的6dB声束宽度 D．缺陷的延伸性尺寸采用半波高度法（6dB法）测定
答案及解析：B依据JB/T 5000.15—2007重型机械通用技术条件（第15部分：锻钢件无损检测）第三章术语和定义—延伸性缺陷。延伸性缺陷是指缺陷连续回波高度至少在一个方向上不得低于起始记录当量值，其延伸长度应大于缺陷容许的最大当量直径。延伸性缺陷的延伸尺寸采用半波高度法测定（6dB法）。在测定延伸尺寸时，应考虑探头的声域特性进行修正。
12．根据GB/T 6402-2008标准规定，关于下列说法哪项是不正确的（D）
A．单个缺陷是指间距大于40mm,当量直径不小于质量等级规定的起始记录当量的缺陷
B．在相当于50mm声程范围内同时有五个或五个以上的缺陷反射信号即是密集区缺陷
C．在距离50mm?50mm检测面上同一深度内同时有五个或五个以上的缺陷反射信号即是密集区缺陷
D．在距离检测面50mm立方体内内同时有五个或五个以上的缺陷反射信号即是密集区缺陷
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