(1)测量单缝到光电池之间的距离D或从导轨上的刻度读数。 (2)由一边3个暗点位置计算缝宽。

(3)用测量显微镜直接测量缝宽，在缝的不同位置测3次取平均值，并与前间接测量结果进行比较。

【实验数据记录及处理】

本实验使用的半导体红光激光器波长为：? = 650.0 nm

1. 单缝衍射记录:要特别注意衍射光强的极大值和极小值所对应的坐标的测量） 表：1-1 D= I0= ? =

x(mm) I x(mm) I x(mm) I 2. 选取中央最大光强处为x轴坐标原点，把测得的数据作归一化处理。即把在不同位置上测得的检流计光强读数I除以中央最大的光强读数I0，然后在毫米方格（坐标）纸上做出 I-x衍射相对光强分布曲线。 3. 仪器只做单缝衍射实验，其它的衍射可以作为学生演示。

【思考题】

1. 不同缝宽的单缝，其光强的分布有何特点？

2. 能否使用本实验中的光强分布测试仪测定各级明条纹的衍射角？ 3. 根据实验结果分析单缝衍射光强分布测量中的误差？

【参考文献】

[1]张三慧.大学基础物理学(第2版) [M].北京:清华大学出版社,2007:262-269 [2]钟读敏.大学物理实验[M].合肥:中国科学技术大学出版社,1995:199-201

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[3]袁长坤.物理量测量[M].北京:科学出版社,2004:220-229 [4]陈金太.大学物理实验[M].厦门:厦门大学出版社,2005:180-182

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