MINITAB下数据的过程能力分析： 1. 正态数据：

a. 检验数据的正态性：统计》基本统计量》正态性检验》确定（MINITAB示例）

P>0.05，则数据服从正态分布，因此可进行连续数据中正态数据的过程能力分析及其指数的计算，但在进行分析和计算之前还需判定过程是否受控，可使用控制图；

b. 控制图监控：统计》控制图》子组的变量控制图》X-R图》确定；

可见无异常发生，过程受控；

c. 过程能力分析与计算：统计》质量工具》能力分析》正态》确定

2. 非正态数据：

a. 数据的正态性检验：同上

P<0.05，所以数据为非正态数据，需进行转换后方可进行过程能力分析，但这并不妨碍用原始数据进行控制图的绘制。

b. 数据的转换：统计》控制图》BOX-COX变换》填入数据“扭曲”，子组大小填“10》选项》将变换后的数据存入“C2”中》确定； 得到如下图，可知转换的λ=0.5，即对原始数据求平方根；

c. 控制图的绘制：步骤同上

扭曲 的 Xbar-R 控制图5UCL=4.5904样本均值32__X =2.923112345样本10.07.5678910LCL=1.256UCL=9.61样本极差5.02.5_R=5.41LCL=1.210.012345样本678910 d. 过程能力分析：统计》质量工具》能力分析》正态》单列为“C2”，子组大小为“10”，规格上限为“2.82”，2.82=81/2，确定

3.

4. 离散数据： a． 计算DPMO，公式参见SRINNI培训：

b．将DPMO暂时理解为不合格品率，如果DPMO=66807.2，则不合格品率P=0.00668072； c． 计算》概率分布》正态分布》逆累计概率》输入常量“0.0668072”，，确定： d． e． 根据正态分布的对称性：

Z=︳-1.5︳+1.5=3，即相应的SIGMA水平为3， 公式为： Z=︳x︳+1.5