最新MINITAB下数据的过程能力分析 下载本文

MINITAB下数据的过程能力分析: 1. 正态数据:

a. 检验数据的正态性:统计》基本统计量》正态性检验》确定(MINITAB示例)

P>0.05,则数据服从正态分布,因此可进行连续数据中正态数据的过程能力分析及其指数的计算,但在进行分析和计算之前还需判定过程是否受控,可使用控制图;

b. 控制图监控:统计》控制图》子组的变量控制图》X-R图》确定;

可见无异常发生,过程受控;

c. 过程能力分析与计算:统计》质量工具》能力分析》正态》确定

2. 非正态数据:

a. 数据的正态性检验:同上

P<0.05,所以数据为非正态数据,需进行转换后方可进行过程能力分析,但这并不妨碍用原始数据进行控制图的绘制。

b. 数据的转换:统计》控制图》BOX-COX变换》填入数据“扭曲”,子组大小填“10》选项》将变换后的数据存入“C2”中》确定; 得到如下图,可知转换的λ=0.5,即对原始数据求平方根;

c. 控制图的绘制:步骤同上

扭曲 的 Xbar-R 控制图5UCL=4.5904样本均值32__X =2.923112345样本10.07.5678910LCL=1.256UCL=9.61样本极差5.02.5_R=5.41LCL=1.210.012345样本678910 d. 过程能力分析:统计》质量工具》能力分析》正态》单列为“C2”,子组大小为“10”,规格上限为“2.82”,2.82=81/2,确定

3.

4. 离散数据: a. 计算DPMO,公式参见SRINNI培训:

b.将DPMO暂时理解为不合格品率,如果DPMO=66807.2,则不合格品率P=0.00668072; c. 计算》概率分布》正态分布》逆累计概率》输入常量“0.0668072”,,确定: d. e. 根据正态分布的对称性:

Z=︳-1.5︳+1.5=3,即相应的SIGMA水平为3, 公式为: Z=︳x︳+1.5