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版本 1.0 2013-06
国际标准
电子电气产品中特定物质的测定
第五部分：采用AAS，AFS，ICP-OES,和ICP-MS来测定聚合
物和电子装置中的Cd，Pb，Cr和金属中的Cd，Pb
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内容
前言...................................................................................................................4 简介...................................................................................................................6 1 范围.............................................................................................................7 2 引用标准......................................................................................................8 3 术语，定义和缩写........................................................................................8 3.1术语和定义.............................................................................................8 3.2缩写........................................................................................................9 4 试剂.............................................................................................................9 4.1 概述.......................................................................................................9 4.2 试剂.......................................................................................................9 5 设备...........................................................................................................11 5.1 概述.....................................................................................................11 5.2 设备.....................................................................................................12 6 样品...........................................................................................................13 6.1 概述.....................................................................................................13 6.2 试验部分.............................................................................................13
6.2.1 聚合物.......................................................................................13 6.2.2 金属..........................................................................................13 6.2.3 电子装置...................................................................................13
7 步骤...........................................................................................................13 7.1 聚合物.................................................................................................13
7.1.1 概述..........................................................................................13 7.1.2 灰化法.......................................................................................14 7.1.3 酸消解法...................................................................................15 7.1.4 微波消解...................................................................................15 7.2 金属.....................................................................................................16
7.2.1 概述..........................................................................................13 7.2.2 样品消解的常用方法.................................................................14 7.2.3含Zr，Hf，Ti，Ta，Nb或者W的样品.........................................15 7.2.4含Sn的样品..............................................................................15 7.3 电子装置.............................................................................................18
7.3.1 概述..........................................................................................18 7.3.2 王水消解...................................................................................18 7.3.3 微波消解...................................................................................19 7.4 试剂空白的制备...................................................................................20 8 校准...........................................................................................................20 8.1 概述.....................................................................................................20 8.2校准溶液的制备....................................................................................20 8.3校准曲线的建立....................................................................................20 8.4 样品的测量..........................................................................................21 9 计算...........................................................................................................22 10 精确度.......................................................................................................22
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11 质量控制....................................................................................................24 11.1 概述...................................................................................................24 11.2 检出限和定量限.................................................................................25 附录A 采用AAS，AFS,ICP-OES和ICP-MS来测定聚合物和电子装置中的 Cd，Pb,Cr以及金属中的Cd和Pb的实际应用..................................................27 附录B 国际上多个实验室之间研究的结果以及4A(IIS 4A)…………….……..33 文献.................................................................................................................36
图A.1-背景修正...............................................................................................31
表1—重复性和再现性.....................................................................................22 表2—质量控制项目的验收准则.......................................................................24 表3—方法检测极限=t*Sn-1............................................................................26 表A.1—对于Cd和Pb波长的光谱干扰..........................................................28 表A.2—对于Cr波长的光谱干扰.....................................................................29 表A.3—质量/电荷之比的例子.........................................................................30 表A.4—用于AAS波长的例子.........................................................................30 表A.5—用于AFS波长的例子.........................................................................31 表A.6—用于样品微波消解的程序...................................................................32 表B.1—用于AAS的统计数据.........................................................................33 表B.2—用于AFS的统计数据.........................................................................33 表B.3—用于ICP-OES 的统计数据................................................................34 表B.4—用于ICP-MS 的统计数据..................................................................35
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电子电气产品中特定物质的测定
第五部分：采用AAS，AFS，ICP-OES,和ICP-MS来测定聚合物和电子装置中
的Cd，Pb，Cr和在金属中的Cd，Pb
前 言
1) 国际电工委员会（IEC）是一个世界性的标准化组织，它是由各个国家的电
工委员会组成。IEC的目的是在电子电气领域内标准化有关的所有问题促进国际间的合作。为了实现这一目标和其他的活动，IEC共开出版国际标准，技术规范，技术报告，公开发行规范(PAS)和指导(此后均称作“IEC出版物”)。它们的制定工作委托给技术委员会：任何国家对此项目感兴趣的IEC委员会均可参与制定工作。与IEC相关联的国际组织，政府组织或非政府组织也可以参与制定工作。IEC同国际标准化组织（ISO）根据双方潜力的协议，进行密切的合作。
2) IEC对技术问题的正式决定或协议，就近来说，就是相关的议题在国际范围
内达成共识，因为每个技术委员会有感兴趣的来自各个国家IEC委员会的代表。
3) IEC发行的出版物以推荐的形式在国际范围使用，在这种意义上，它被IEC各国委员会所接受。IEC虽然作出各种合理的努力以确保出版物技术内容的准确性，但却对它们如何被使用或终端使用者的误解不承担责任。
4) 为了在国际程度上达到一致，IEC各国委员会担负着在它们的国家和地区性 出版物中最大程度地公开应用IEC出版物。任何IEC出版物于相应的国家或 地区性出版物之间的差异应在结尾部分予以清楚说明。
5) IEC不提供标识程序以证明符合性，因此，当任何产品宣称符合IEC某一标准时，IEC不负有责任。
6) 所有使用者必须确保他们获得的本出版物为最新版本。
7) 任何人身伤害，财产损失或其他任何性质的损失，无论是直接还是间接的，或是花费（包括法定费用），及由此出版物产生的花费，使用或依赖次出版物产生的花费，或是其他的IEC出版物，IEC或它的主管，雇员，服务人员、机构包括独立的专家，技术委员会的成员和各个国家的IEC委员会不需要承担责任。
8) 需要注意到本出版物中引用到的参考标准，参考标准的使用与正确运用本出版物是密不可分的。
9) 需要注意到本IEC出版物的某些部分可能会涉及到著作权的问题，IEC并不
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负责鉴别这种著作权相关的问题。
国际标准IEC 62361-5已经由IEC技术委员会TC 111：电子电气产品于系统的环境标准化制定。
IEC 62321:2008的第一版本是一个“独立的”标准，包括一个介绍，测试方法的概要，一个机械样品的制备以及各种测试方法条款。
IEC 62321-5的第一个版本是IEC 62321:2008的部分代替，形成了一个结构化修订，逐步的代替了条款8到10，以及附录F，G和H。
在IEC 62321系列中的未来部分将逐步地代替来自IEC 62321:2008的相关条款。直到出版所有的部分，然而，对于那些还没有发布成一个独立部分的那些条款，IEC 62321：2008仍然是有效的。
本标准的内容基于以下文件： FIDS 投票报告 111/297/FDIS 111/307/RVD 有关本标准投票通过的全部信息可以从以上表中的投票报告找到。
本出版物根据ISO/IEC指导第2部分起草。
在IEC 62321系列中所有部分的清单能够在IEC网站上找到，在以下的标题中：在电工产品中某些物质的测定。
委员会决定在数据库中与此相关的出版物的内容在修订期限之前将维持不变，此日期显示在IEC的网址：http://webstore.iec.ch中可以找到。此期限后，本出版物将会被：
? 重新确认 ? 废除
? 由修订版取代 ? 修订
重要—这个出版物的封面上有个“彩色的”标识表明：这个标志包含被认为是有利于对出版内容正确理解的颜色。因此，使用者应该用一个彩色的打印机来打印这个文件。
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