实验二 组合逻辑电路
一、实验目的
1.掌握组和逻辑电路的功能测试。 2.验证半加器和全加器的逻辑功能。 3.学会二进制数的运算规律。
二、实验仪器及器件
1.仪器：数字电路学习机
2.器件：74LS00 二输入端四与非门 3片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS54 四组输入与或非门 1片
三、实验内容
1.组合逻辑电路功能测试
(1).用2片74LS00按图2.1连线，为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。
(2).图中A、B、C接电平开关，Y1、Y2接发光管电平显示
(3).按表2.1要求，改变A、B、C的状态，填表并写出Y1、Y2的逻辑表达式。 (4).将运算结果与实验比较。
输入 输出 A 0 0 0 1 1 1 1 0 B 0 0 1 1 1 0 0 1 C 0 1 1 1 0 0 1 0 Y1 0 0 1 1 1 1 1 1 Y2 0 1 1 0 0 0 1 1
Y1=A+B，Y2?AB?BC 2.测试用异或门（74LS86）和与非门组成的半加器的逻辑功能。
根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y是A、B的异或，而进位Z是A、B相与，故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成，如图2.2。
(1).用异或门和与非门接成以上电路。输入A、B接电平开关，输出Y、Z接电平显示。 (2).按表2.2要求改变A、B状态，填表。
输入 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 Y 0 1 1 0 输出 Z 0 0 0 1
3.测试全加器的逻辑功能。
(1).写出图2.3电路的逻辑表达式。 (2).根据逻辑表达式列真值表。
(3).根据真值表画逻辑函数SiCi的卡诺图。 (4).连接电路，测量并填写表2.3各点状态。
Si?A?B?Ci?1 Ci?(A?B)Ci?1?AB Ai 0 0 1 1 0 0 1 1 Bi 0 1 0 1 0 1 0 1 Ci-1 0 0 0 0 1 1 1 1 Y 0 1 1 0 0 1 1 0 Z 0 0 0 0 1 1 1 1 X1 1 1 1 1 1 0 0 1 X2 1 0 0 1 1 1 1 1 X3 1 1 1 1 0 1 1 0 Si 0 1 1 0 1 0 0 1 Ci 0 0 0 1 0 1 1 1
Si Ci AiBi Ci-1 0 1 00 0 1 01 1 0 11 0 1 10 1 0 AiBi Ci-1 0 1 00 0 0 01 0 1 11 1 1 10 0 1
4.测试用异或门、与或门和非门组成的全加器的功能。
全加器可以用两个半加器和两个与门一个或门组成，在实验中，常用一块双异或门、一个与或非门和一个与非门实现。
(1).写出用异或门、与或非门和非门实现全加器的逻辑表达式，画出逻辑电路图。 (2).连接电路图，注意“与或非”门中不用的“与门”输入端要接地。 (3).按表2.4记录Si和Ci的状态。
Si?A?B?Ci?1，Ci?(A?B)Ci?1?AB
Ai Si
Bi
+ Ci
Ci-1
Ai 0 0 1 1 0 0 1 1
Bi 0 1 0 1 0 1 0 1 Ci-1 0 0 0 0 1 1 1 1 Si 0 1 1 0 1 0 0 1 Ci 0 0 0 1 0 1 1 1 四、实验报告
1.整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。 2.总结组合逻辑电路的分析方法。