江苏东光微电子股份有限公司 文件编号:JSDG-03-12-116-A 页 码: 1/2 XJ4810半导体管特性图示仪测量可控硅操作规程 受控状态: 修改状态:0
一、试验设备
XJ4810半导体管特性图示仪 二、测试产品
所有可控硅、晶闸管 三、准备工作
② ③
① ⑤
④
⑥
⑧
⑦
图1
1． 拉出电源亮度开关①，指示灯亮，预热15分钟后，调节辉度、聚焦及辅助聚焦，
使光点清晰，即可进行测试。
2． 将X轴电压旋钮③转到2V档，Y轴电流旋钮②转到5 mA档，峰值电压范围④选
择50V档，功耗限制电阻选择250Ω，调节峰值电压旋钮2V/格х6格=12V（见图2），然后将X轴旋转调至阶梯处。
图2
四、产品测试
1． 将可控硅的K（T1）、A（T2）、G通过测试制具分另与设备的E、C、B相连接，根据
江苏东光微电子股份有限公司 文件编号:JSDG-03-12-116-A 页 码: 2/2 XJ4810半导体管特性图示仪测量可控硅操作规程 受控状态: 修改状态:0 管子的IGT参数范围，选择合适的电压-电流/度⑧开关档级
2． 按下表规定插入被测管，选择相应的开关位置（控制极G极性是相对于阴极K（T1）
极性而言）。
触发电流 IGTⅠ IGTⅡ IGTⅢ IGTⅣ 插脚位置 K（T1）接E G接B A（T2）接C 按钮⑥位置 按出 按出 按入 按入 按钮⑦位置 按出 按入 按入 按出 3． 使测试图形上同时显示出未触发和被触发的波形，根据相应的阶梯幅度选择开关所指
的电流档级，读取不触发阶梯扫描线的根数。
IGT=不触发阶梯扫描线根数х阶梯电流档级。测试波形示意图
图中6个点为
不触发阶梯扫
描线；IGTⅠ=6
х阶梯电流档
级 图1 IGTⅠ 图2 IGTⅡ
图3 IGTⅢ 图4 IGTⅣ 五、关机
当测试完毕后，将电压调节旋钮逆时针旋到底，取下产品，关闭测试仪。
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