《薄膜光学与技术》期末测验试题A答案

《薄膜光学与技术》期末测验试题A答案

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2012-2013学年第1学期《薄膜光学与技术》期末考试试题(A卷)

参考答案及评分标准

一、填空题 (每空1分,共24分)

1、在折射率为3.5的基底表面镀单层减反射膜,对于4000nm的光波,理论上能达到最佳减反射效果的薄膜折射率为: 1.8708 ,需要镀制的薄膜光学厚度为 1000 nm。

2、若薄膜的折射率为n,光线在薄膜内的折射角为θ,则s、p光的修正导纳分别为 ncosθ 、 n/cosθ 。

3、对于波长为λ的光来说,单层膜的光学厚度每增加 λ/4 ,薄膜的反射率就会出现一次极值变化。当薄膜的折射率小于基底折射率时,出现的第一个反射率极值是 极小 (极大、极小)值。

4、虚设层的形成条件是: 薄膜的光学厚度等于半波长的整数倍 。 5、周期性对称膜系(pqp)s的等效折射率和 基本周期/pqp 的等效折射率完全相同,其等效位相厚度等于 基本周期的s倍 。

6、折射率为n1,光学厚度为λ0/4,基底的折射率为ns,那么,该单层膜与基底的组合导纳为: Y?n12ns 7、介质高反射膜的波数宽度仅与两种膜料的 折射率 有关,折射率 差值越大 ,高反射带越宽。

8、热偶真空规是通过测量温度达到间接测量 真空 的目的。

9、镀膜室内真空度高表明气体压强 小 ,真空度低则气体压强 大 。 10、薄膜几何厚度的监控通常用 石英晶振 膜厚仪来实现,光学厚度常常采用 光电 膜厚仪来监控。

11、采用PVD技术制造薄膜器件时,薄膜折射率的误差主要来自三个方面: 膜层的聚集密度 、 膜层的微观组织物理结构 、 膜层的化学成分 。 12、改善膜层厚度均匀性的措施包括 旋转夹具 和 膜层厚度调节板 。 13、采用光电极值法监控膜厚,如果需要镀制光学厚度为900nm的薄膜,在

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