《材料现代分析方法》练习与答案修改

一、选择题

1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( B ) A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;

2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B ) A. Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。 三、填空题

1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 连续 X射线和 特征 X射线。 2. X射线与物质相互作用可以产生 俄歇电子 、 透射X射线 、 散射X射线 、 荧光X射线 、 光电子 、 热 、 、 。

3. X射线的本质既是 波长极短的电磁波 也是 光子束 ,具有 波粒二象性 性。

5. 短波长的X射线称 ,常用于 ;长波长的X射线称 ,常用于 。 一、选择题

1.有一倒易矢量为g??2a??2b??c?,与它对应的正空间晶面是( )。 A. (210);B. (220);C. (221);D. (110);。

2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生( )衍射线。

A. 三条; B .四条; C. 五条;D. 六条。

3.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于( )。

A.是否满足布拉格条件;B.是否衍射强度I≠0;C.A+B;D.晶体形状。 4.面心立方晶体(111)晶面族的多重性因素是( )。 A.4;B.8;C.6;D.12。 二、填空题

1. 倒易矢量的方向是对应正空间晶面的 ;倒易矢量的长度等于对应 。 2. 只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上,就表示该 满足 条件,能产生 。 3. 影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还

有 , , , 。

4. 考虑所有因素后的衍射强度公式为 ,对于粉末

多晶的相对强度为 。

5. 结构振幅用 表示,结构因素用 表示,结构因素=0时没有衍射我们称

或 。对于有序固溶体,原本消光的地方会出现 。 三、选择题

1.最常用的X射线衍射方法是( )。

A. 劳厄法;B. 粉末多法;C. 周转晶体法;D. 德拜法。 2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是( )。 A. 正装法;B. 反装法;C. 偏装法;D. A+B。

3.德拜法中对试样的要求除了无应力外,粉末粒度应为( )。 A. <325目;B. >250目;C. 在250-325目之间;D. 任意大小。 4.测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是( )。 A. 保持同步1﹕1 ;B. 2﹕1 ;C. 1﹕2 ;D. 1﹕0 。 5.衍射仪法中的试样形状是( )。

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A. 丝状粉末多晶;B. 块状粉末多晶;C. 块状单晶;D. 任意形状。 四、填空题

1. 在粉末多晶衍射的照相法中包括 、 和 。

2. 德拜相机有两种,直径分别是 和Φ mm。测量θ角时,底片上每毫米对

应 o和 o。

3. 衍射仪的核心是测角仪圆,它由 、 和 共同组成。

4. 可以用作X射线探测器的有 、 和 等。 5. 影响衍射仪实验结果的参数有 、 和 等。 五、选择题

1.测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是( )。 A. 外标法;B. 内标法;C. 直接比较法;D. K值法。

2. X射线物相定性分析时,若已知材料的物相可以查( )进行核对。 A. Hanawalt索引;B. Fenk索引;C. Davey索引;D. A或B。 3.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于( )。 A. 相机尺寸误差;B. 底片伸缩;C. 试样偏心;D. A+B+C。 4.材料的内应力分为三类,X射线衍射方法可以测定( )。 A. 第一类应力(宏观应力);B. 第二类应力(微观应力);C. 第三类应力;D. A+B+C。

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5.SinΨ测量应力,通常取Ψ为( )进行测量。 A. 确定的Ψ角;B. 0-45o之间任意四点;C. 0o、45o两点;D. 0o、15o、30o、45o四点。 六、填空题

6. 在Δθ一定的情况下,θ→ o,Δsinθ→ ;所以精确测定点阵常数应选择 θ。 7. X射线物相分析包括 和 ,而 更常用更广泛。

8. 第一类应力导致X射线衍射线 ;第二类应力导致衍射线 ;第三类应力

导致衍射线 。

9. X射线测定应力常用仪器有 和 ,常用方法有 和 。 10. X射线物相定量分析方法有 、 、 等。 七、选择题

1.若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是( 4*10-5 )。 A. 1000;B. 10000;C. 40000;D.600000。 2. 可以消除的像差是( )。

A. 球差;B. 像散;C. 色差;D. A+B。 3. 可以提高TEM的衬度的光栏是( )。

A. 第二聚光镜光栏;B. 物镜光栏;C. 选区光栏;D. 其它光栏。 4. 电子衍射成像时是将( )。

A. 中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合;B. 中间镜的物平面与与物镜的像平面重合;C. 关闭中间镜;D. 关闭物镜。

5.选区光栏在TEM镜筒中的位置是( )。

A. 物镜的物平面;B. 物镜的像平面C. 物镜的背焦面;D. 物镜的前焦面。 八、填空题

11. TEM中的透镜有两种,分别是 物镜 和 目镜 。

12. TEM中的三个可动光栏分别是 第二聚光镜光栅 位于 第二聚光镜下方焦点位

置 , 物镜光栅 位于 物镜后焦面上 , 选区光栅 位于 物镜像平面位置 。 13. TEM成像系统由 物镜 、 中间镜 和 投影镜 组成。

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14.

TEM的主要组成部分是 照明系统 、 成像系统 和 观察记录系

统 ;辅助部分由 真空系统 、 循环冷却系统 和、控制系统 组成。

15. 电磁透镜的像差包括 球 差 、 像散 和 色差 。 九、选择题

1.单晶体电子衍射花样是( )。

A. 规则的平行四边形斑点;B. 同心圆环;C. 晕环;D.不规则斑点。 2. 薄片状晶体的倒易点形状是( )。

A. 尺寸很小的倒易点;B. 尺寸很大的球;C. 有一定长度的倒易杆;D. 倒易圆盘。 3. 当偏离矢量S<0时,倒易点是在厄瓦尔德球的( )。 A. 球面外;B. 球面上;C. 球面内;D. B+C。

4. 能帮助消除180o不唯一性的复杂衍射花样是( )。

A. 高阶劳厄斑;B. 超结构斑点;C. 二次衍射斑;D. 孪晶斑点。 5. 菊池线可以帮助( )。

A. 估计样品的厚度;B. 确定180o不唯一性;C. 鉴别有序固溶体;D. 精确测定晶体取向。

6. 如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是( )。 A. 六方结构;B. 立方结构;C. 四方结构;D. A或B。 十、填空题

16. 电子衍射和X射线衍射的不同之处在于 不同、 不同,以

及 不同。

17. 电子衍射产生的复杂衍射花样是 、 、 、

和 。

18. 偏离矢量S的最大值对应倒易杆的长度,它反映的是θ角 布拉格方程的程度。 19. 单晶体衍射花样标定中最重要的一步是 。

20. 二次衍射可以使密排六方、金刚石结构的花样中在 产生衍射花样,

但体心立方和面心立方结构的花样中 。 十一、 选择题

1.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像,这是( )。 A. 明场像;B. 暗场像;C. 中心暗场像;D.弱束暗场像。 2. 当t=5s/2时,衍射强度为( )。 A.Ig=0;B. Ig<0;C. Ig>0;D. Ig=Imax。

4. 当第二相粒子与基体呈共格关系时,此时的成像衬度是( )。 A. 质厚衬度;B. 衍衬衬度;C. 应变场衬度;D. 相位衬度。

5. 当第二相粒子与基体呈共格关系时,此时所看到的粒子大小( )。

A. 小于真实粒子大小;B. 是应变场大小;C. 与真实粒子一样大小;D. 远远大于真实粒子。

十二、 填空题

21. 运动学理论的两个基本假设是 入射电子在样品内只能受到不多于一次的散射 和

入射电子波在样品内传播过程中,强度的衰减可以忽略 。

22. 对于理想晶体,当 或 连续改变时衬度像中会出现 或 。

23. 对于缺陷晶体,缺陷衬度是由缺陷引起的 点阵畸变 导致衍射波振幅增加了一个

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