数字电路实验指导书

数字电路实验指导书

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目 录

实验一 集成门电路逻辑功能测试 实验二 TTL集成逻辑门参数测试 实验三 OC/三态门电路逻辑功能测试 实验四 用小规模集成电路设计组合逻辑电路 实验五 译码器及其应用 实验六 译码显示电路 实验七 数据选择器及其应用 实验八 加法器 实验九 触发器

实验十 计数器逻辑功能测试及应用(一) 实验十一 计数器逻辑功能测试及应用(二) 实验十二 寄存器功能测试及其应用 实验十三 多谐振荡器 实验十四 555的设计及应用 实验十五 D/A转换器测试 实验十六 A/D转换器测试

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实验一 集成门电路逻辑功能测试

一、实验目的

1、 验证常用集成门电路的逻辑功能; 2、 了解各种门电路的逻辑符号;

3、了解集成电路的引脚排列规律及使用方法。 二、实验仪器与器材

1、实验箱 2、万用表 3、集成电路

74LS00两输入四与非门 74LS86四2输入异或门 74LS08四2输入与门 74LS32四2输入或门 74LS04反相器

三、实验原理

集成逻辑门电路是最简单、最基本的数字集成元件,目前已有种类齐全集成门电路。TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度大、种类多、不宜损坏等特点而得广泛使用,特别对学生进行实验论证,选用TTL电路较合适,因此这里使用了74LS系列的TTL成路,它的电源电压为5V+10%,逻辑高电平“1”时》2.4V,低电平“0”时《0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式,其管脚的识别方法为:将集成块的正面(印有集成电路型号标记面)对着使用者,集成电路上的标识字朝上(或表面的凹口)。 左下脚第一脚为1脚,按逆时针方向顺序排布其管脚。

四、实验内容

1、与门逻辑功能测试

(1)按图1-1接线,门的两个输入端接逻辑开关输出插口,以提供“0”与“1”电平信号,开关向上,输出逻辑“1”,向下为逻辑“0”。门的输出端接 LED发光二极管。

(2)按实验表的要求改变任一逻辑单元的输入端电压状态,观察对应输出端的变化,当电平指示亮时记为1,灭时记为0,将测试结果记录在实验表1-1中。

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+5V

逻辑开

图1-1 与门逻辑功能测试电路

实验表1-1 74LS08逻辑功能表

输入状态 UA 0 0 1 1 0 1 悬空 悬空 悬空

(3)结论

1)TTL门电路悬空相当与( )电平。

2)与门的逻辑功能为:有( )出( ),全( )出( )。 2、或门逻辑功能测试

实验表1-2 74LS32逻辑功能表

输入状态 UA 0 0 1 1 0 1 悬空 悬空 悬空 UB 0 1 0 1 悬空 悬空 0 1 悬空 输出状态 Y UB 0 1 0 1 悬空 悬空 0 1 悬空 输出状态 Y 4

3、非门逻辑功能测试

实验表1-3 74LS04逻辑功能表 UIN 输出状态(0/1) 0 1 悬空 4、与非门逻辑功能测试

实验表1-4 74LS00逻辑功能表 输入状态 输出状态 UA UB Y 0 0 0 1 1 0 1 1 0 悬空 1 悬空 悬空 0 悬空 1 悬空 悬空

结论:(1)与非门的逻辑功能为:有( )出( ),全( )出( (2)能否用与非门实现非门?

5、请用74LS86检测异或门和同或门的逻辑功能 (1)异或门逻辑功能测试

实验表1-5 74LS86逻辑功能表A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1

(2)同或门逻辑功能测试

实验表1-6 逻辑功能表

A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1 5

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