数字电路实验指导书
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目 录
实验一 集成门电路逻辑功能测试 实验二 TTL集成逻辑门参数测试 实验三 OC/三态门电路逻辑功能测试 实验四 用小规模集成电路设计组合逻辑电路 实验五 译码器及其应用 实验六 译码显示电路 实验七 数据选择器及其应用 实验八 加法器 实验九 触发器
实验十 计数器逻辑功能测试及应用（一） 实验十一 计数器逻辑功能测试及应用（二） 实验十二 寄存器功能测试及其应用 实验十三 多谐振荡器 实验十四 555的设计及应用 实验十五 D/A转换器测试 实验十六 A/D转换器测试
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实验一 集成门电路逻辑功能测试
一、实验目的
1、 验证常用集成门电路的逻辑功能； 2、 了解各种门电路的逻辑符号；
3、了解集成电路的引脚排列规律及使用方法。 二、实验仪器与器材
1、实验箱 2、万用表 3、集成电路
74LS00两输入四与非门 74LS86四2输入异或门 74LS08四2输入与门 74LS32四2输入或门 74LS04反相器
三、实验原理
集成逻辑门电路是最简单、最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。TTL 集成电路由于工作速度高、输出幅度大、种类多、不宜损坏等特点而得广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较合适，因此这里使用了74LS系列的TTL成路，它的电源电压为5V+10%，逻辑高电平“1”时》2.4V，低电平“0”时《0.4V。实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标识字朝上（或表面的凹口）。 左下脚第一脚为1脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。
四、实验内容
1、与门逻辑功能测试
（1）按图1－1接线，门的两个输入端接逻辑开关输出插口，以提供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，向下为逻辑“0”。门的输出端接 LED发光二极管。
（2）按实验表的要求改变任一逻辑单元的输入端电压状态，观察对应输出端的变化，当电平指示亮时记为1，灭时记为0，将测试结果记录在实验表1-1中。
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+5V
逻辑开
图1-1 与门逻辑功能测试电路
实验表1-1 74LS08逻辑功能表
输入状态 UA 0 0 1 1 0 1 悬空 悬空 悬空
（3）结论
1）TTL门电路悬空相当与（ ）电平。
2）与门的逻辑功能为：有（ ）出（ ），全（ ）出（ ）。 2、或门逻辑功能测试
实验表1-2 74LS32逻辑功能表
输入状态 UA 0 0 1 1 0 1 悬空 悬空 悬空 UB 0 1 0 1 悬空 悬空 0 1 悬空 输出状态 Y UB 0 1 0 1 悬空 悬空 0 1 悬空 输出状态 Y 4
3、非门逻辑功能测试
实验表1-3 74LS04逻辑功能表 UIN 输出状态（0/1） 0 1 悬空 4、与非门逻辑功能测试
实验表1-4 74LS00逻辑功能表 输入状态 输出状态 UA UB Y 0 0 0 1 1 0 1 1 0 悬空 1 悬空 悬空 0 悬空 1 悬空 悬空
结论：（1）与非门的逻辑功能为：有（ ）出（ ），全（ ）出（ （2）能否用与非门实现非门？
5、请用74LS86检测异或门和同或门的逻辑功能 （1）异或门逻辑功能测试
实验表1-5 74LS86逻辑功能表A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1
（2）同或门逻辑功能测试
实验表1-6 逻辑功能表
A B Y 0 0 0 1 1 0 1 1 5
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