低频基于multisim的软件仿真实验报告

南昌大学实验报告

基于Multisim的电路仿真实验报告

一、实验目的

利用multisim分析图所示电路中Rb、Rc和晶体管参数变化对Q点、Au、Ri、Ro和Uom的影响。

?二、仿真电路

晶体管采用虚拟晶体管,VCC?12V。

1、当Rc?5k?, Rb?510k?和Rb?1M?时电路图如下(图1):

图 1

2、当Rb?510k?,Rc?5k?和Rc?10k?时电路图如下(图2)

图 2

3、当Rb?1M?时, Rc?5k?和Rc?10k?时的电路图如下(图3)

图 3

4、当Rb?510k?,Rc?5k?时,?=80,和?=100时的电路图如下(图4)

图 4

三、仿真内容

1. 当Rc?5k?时,分别测量Rb?510k?和Rb?1M?时的UCEQ和Au。由于输出

电压很小,为1mV,输出电压不失真,故可从万用表直流电压(为平均值)档读出静态管压降UCEQ。从示波器可读出输出电压的峰值。 2. 当Rb?510k?时,分别测量Rc?5k?和Rc?10k?时的UCEQ和Au。 3. 当Rb?1M?时,分别测量Rc?5k?和Rc?10k?时的UCEQ和Au。 4. 当Rb?510k?,Rc?5k?时,分别测量β=80,和β=100时的UCEQ和Au。

????四、仿真结果

1、当Rc?5k?,(表1 仿Rb?510k?和Rb?1M?时的UCEQ和Au仿真结果如下表真数据)

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