思考题：
（XRD可参考：高等结构分析，马礼敦主编，复旦大学出版社；） （BET 和XPS目前无教材，信息来自文献和一些专业书籍） 1. X 射线多晶衍射的基本原理（了解布拉格方程） 2. X射线物相定性分析原理及步骤 3. X 射线多晶衍射谱可以提供哪些信息？ 4. 如何用谢乐公式测定晶粒大小？
5. 若锡酸锌中的锌部分被镉取代（晶格取代），2?角向高角移动还是低角移动？若硫化镉中的硫被锡部分取代，2?角向高角移动还是低角移动？（考虑原子半径） 6. 微孔，介孔和大孔材料在XRD图谱上有何不同？（考虑2?角和衍射峰的数目）
7. 结晶度的定义及利用结晶度进行XRD定量分析 8. 什么是吸附等温线？
9. 吸附等温线主要有哪几种类型（熟悉图谱特征）？
10. 滞后环产生的原因及滞后环有哪几种类型及每种滞后环对应的孔结构类型？（重点了解H1和H2）
11. 如何通过吸附等温线数据得到BET比表面的数据？ 12. 了解t-plot方法及应用
13. 不同类型的孔径分布需要不同的数据处理方法和模型，如介孔孔径分布一般采用什么方程处理得到？微孔呢？
14. TypeⅠ吸附等温线适用于什么类型的材料，一般用什么方法处理数据？ 15. Type Ⅳ吸附等温线适用于什么类型的材料，一般用什么方法处理数据？ 16. 根据激发源的不同，电子能谱分为几种类型？它们分别采用什么作为激发光源？
17. X射线光电子能谱（XPS）产生的原理及如何进行定性定量分析？什么是“荷电效应”？如何消除？
18. 由于原子所处的化学环境不同而引起的内层电子结合能的变化，在谱图上表现为谱峰的位移，这一现象称为化学位移。化学位移的分析测定是XPS分析中的一项主要内容，是判定原子化合态的重要依据。 试比较Fe2＋和Fe3＋，AgF和AgI中Ag结合能的大小，并分析原因。
1、如何提高显微镜分辨本领？电子显微镜的分辨本领受哪些条件的限制？ 2、透射电子显微镜的成像原理是什么？为什么必须小孔成像？ 3、扫描电子显微镜的工作原理是什么？
4、相对光学显微镜，透射电子显微镜和扫描电子显微镜各有哪些优点？ 5、电子探针X射线显微分析仪有哪些工作模式，能谱仪和波谱仪的特点是什么？ 6、为什么透射电镜的要求非常薄，而扫描电镜无此要求？ 7、环境扫描电镜中“环境”指什么？
8、高分辨电镜是否指分辨率高的电镜？请简单讲述高分辨电镜的原理及优点。 9、选用电子显微分析仪时应从哪几方面考虑？
10、与X射线衍射相比，（尤其透射电镜中）电子衍射的特点是什么？