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试题
《可靠性工程基础》试题目录
1 -------------------------------------(2)
试题 2 -------------------------------------(15)
试题 3 -------------------------------------(29)
试题 4 -------------------------------------(42)
试题
5 --------------------------------------(55)
《可靠性工程基础》——试题1
一、是非判断题（是画∨，非画×）
⒈并联系统是冗余系统的一种。
⒉串联系统的可靠性一定小于其中任意一个组成单元的可靠性。
（ ）
（ ）
⒊可靠性分配应该在可靠性预计的基础上进行。 （ ）
⒋产品在规定的条件下，规定的时间内不能完成规定的功能称为故障。 （ ） 5. FMECA一般是一种对产品失效进行定性分析的手段。（ ）
⒍若某一产品的失效事件为M，M由两单元的失效事件C和D组成，则其产品的失效概率P（M）=P（C）+P（D）。 （ ） ⒎电子元器件在任何情况下原则上都不允许超额使用。（ ）
⒏我们称MTBF为产品的平均寿命。 （ ）
⒐可靠性老炼和筛选试验的目的都是为了提高产品的固有可靠性。
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（ ）
⒑产品可靠性规定的时间只能用小时计算。 （ ）二、选择题
⒈某产品的可靠度为R(t )，当t 1小于t 2时，可靠度R(t 1)与R(t 2) 的关系为
。
① R(t1)一定大于或等于R(t2)； ② R(t1)一定小于或等于R(t2)；
③ R(t1)可能大于、等于或小于R(t2)。
⒉寿命为指数分布的2个单元组成一个并联系统，若两单元的失效率分别为λ1和λ2，则该系统的 MTBF为 。
① 1/(λ1 +λ2)； ③ 1/λ1 + 1/λ2；
3. 电子元器件老炼的目的是
①提高产品的固有可靠性； ②剔除产品的早期失效； ③消除产品参数的漂移。
⒋产品可靠性筛选试验的目的是
①提高产品的固有可靠性； ②消除产品参数的漂移；
③剔除产品的早期失效。 ⒌对单元产品的可靠性评估一般采用＿＿＿＿＿＿＿。
①点估计法； ②区间估计法； ③ CMSR法； ④ MML法。
⒍产品失效分布函数的代号是
① f(t)； ② R(t)； ③ λ(t)； ④ F(t)。
⒎对单元产品进行可靠性评估应根据
①一批产品的使用试验结果；
。 。
② 1/λ1 + 1/λ2 + 1/(λ1 +λ2)；
④ 1/λ1 + 1/λ2 - 1/(λ1 +λ2)。 。
。
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②一批产品的随机抽样寿命试验结果； ③该产品的可靠性分配结果。
⒏在事先没有规定产品可靠性指标的情况下，用来测定产品可靠性特征量的试验称做 。
①可靠性验证试验； ②可靠性验收试验； ③可靠性测定试验。
⒐故障树分析的代号是
① ETA； ② FMEA； ③ FT； ④ FTA 。 三、填空题
。
⒈若产品的性能指标X～N(μ，σ)=(10,1),则其概率密度函数 f(x) = 。 ⒉若产品的寿命服从指数分布，则其
R(t) = ； F(t) = ；f (t) = ； λ(t) = ；MTBF= 。
⒊电子线路的三次设计是指
⒋产品在规定的条件下，在规定的
称为产品的可靠性。
⒌一个系统由n个单元组成。当每个单元都正常工作时系统才能正常工作，此时我们称这种系统为 系统；如果只要有一个单元
工作系统就能工作，此时我们称这种系统为 系统；如果n个单元中 有k个或k个以上完好系统才能正常工作，我们把这种系统称为系统，其代号为 。
⒍一般产品失效率函数曲线的形状象洗澡盆，故称
曲线，按其变化规律可分为三个阶段，即 失效期、失效期和 失效期。
、
和
内，完成规定功能的
。
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