自动控制原理实验报告
实验时间：201Ｘ年Ｘ 月Ｘ 日 地点：ＸＸＸＸ 实验报告人（签名）：倪马 同组实验人（签名）：
1 实验名称：线性系统的频域分析 2 实验目的：
(1)掌握二阶开环系统的对数频率特性、幅相频率特性、实频特性和虚频特性；
(2)掌握欠阻尼二阶闭环系统中的自然频率、阻尼比对开环参数幅值穿越频率、相位裕度的影响，以及幅值穿越频率和相位裕度的计算；
(3)掌握二阶开环系统对数频率特性曲线和幅相频率特性曲线的特点及绘制方法。
3 实验内容：
（1）根据实验讲义上模拟电路图和接线要求，在LabACTn自控／计控原理实验机的对应接口上连接好线路；
（2）根据实验讲义的具体要求进行“运行”操作，并观察实验曲线，根据曲线计算对应参数——一阶惯性环节的转折频率、二阶闭环系统的谐振频率?r&谐振峰值L(?r)，改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图。
4 实验步骤 4.1 实验操作
4.1.1 一阶惯性环节的频率特性曲线
惯性环节的频率特性测试电路见图3-2-1，改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图，及频率特性曲线，並计算和测量其转折频率，填入实验报告。
一阶惯性环节的转折频率：??1/T
图3-2-1 惯性环节的频率特性测试电路
图3-2-1电路的增益K=1，惯性时间常数 T=0.1，转折频率：??1/T?0.1rad/s 实验内容及步骤
（1）构造模拟电路：按图3-2-1安置短路套及插孔连线。 （2）运行、观察、记录：
① 选择系统的频域分析／一阶惯性环节频率特性曲线，将弹出频率特性扫描点设置表，用户可在?频率特性扫描点?设置表中根据需要填入各个扫描点角频率，设置完后，点击《确认》后，将弹出?频率特性曲线?实验界面，点击《开始》，即可按表中规定的角频率值，按序自动产生多种频率信号，画出频率特性曲线。
② 测试结束后（约五分钟），将显示被测系统的对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和幅相曲线（奈奎斯特图），界面“显示选择”选择了“伯德图”。 ③ 在频率特性曲线界面上移动各标尺测量出一阶惯性环节的转折频率。
4.1.2 二阶开环系统的频率特性曲线
频率特性测试电路如图3-2-2所示，其中惯性环节（A3单元）的R用元件库A11中可变电阻取代。
图3-2-2 二阶闭环系统频率特性测试电路
图3-2-2二阶闭环系统模拟电路的环节参数：积分环节（A2单元）的积分时间常数Ti=R1*C1=1秒，
惯性环节（A3单元）的惯性时间常数 T=R3*C2=0.1秒，开环增益K=R3/R。设开环增益K=25（R=4K），
测试其幅值穿越频率?c、相位裕度?。
1．被测系统模拟电路图的构成如图3-2-2所示（同二阶闭环系统频率特性测试构成），2．改变被测系统的各项电路参数，画出其系统模拟电路图，及开环频率特性曲线，並
计算和测量其幅值穿越频率?c、相位裕度?，填入实验报告。
实验内容及步骤
（1）构造模拟电路：安置短路套及插孔连线表同笫3.2.2 节《二阶闭环系统的频率特性曲线测试》。
（2）运行、观察、记录：
① 选择系统的频域分析／二阶开环系统频率特性曲线，将弹出频率特性扫描点设置表，用户可在设置表中根据需要填入各个扫描点角频率，设置完后，点击《确认》后，将弹出?频率特性曲线?实验界面，点击《开始》，即可按表中规定的角频率值，按序自动产生多种频率信号，画出频率特性曲线。
② 测试结束后（约五分钟），将显示被测系统的对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和幅相曲线（奈奎斯特图），界面“显示选择”选择了“开环-伯德图”和“奈氏图”。
③ 幅频穿越频率?C ，相位裕度γ的测试
在开环对数幅频曲线中，移动L标尺和?标尺到曲线L(?)?0处，可读出幅频穿越频率?C。
④ 穿越频率?C自动搜索
点击搜索穿越频率键，将自动搜索并补充搜索过的点，直到搜索到谐振频率，自动停止
搜索，该点测试成功后，在特性曲线上将出现?黄色’的点，即谐振频率?C，同时在界面右侧显示该系统的穿越频率角频率点，及该点的L、?、Im、Re。界面“显示选择”选择了“开环-伯德图”。
由于本实验机所用的电容误差较大，因此其实验结果的计算值进行比对有误差。。 注：搜索时，请确保谐振峰值的两侧各有已测的测试点！ ⑤ 在开环幅相特性曲线上测量相位裕度γ 在开环幅相特性界面区域内点击一下，则会出现相位裕度的标尺，然后拖动该标尺使之与单位圆与系统奈奎斯特曲线交点相交，标尺与负实轴的夹角，即为系统的开环相位裕度γ，界面“显示选择”选择了“开环-伯德图”。
4.2 实验现象
4.2.1 一阶惯性环节的频率特性曲线 （1）R2=50K，C=1μ时
（2）R2=100K，C=1μ时