材料分析测试方法练习与答案

来。

98. 何谓生色基团及助色基团?试举例说明。

答:生色团:最有用的紫外—可见光谱是由π→π*和n→π*跃迁产生的。这两种跃迁均要求有机物分子中含有不饱和基团。这类含有π键的不饱和基团称为生色团。简单的生色团由双键或叁键体系组成,如乙烯基、羰基、亚硝基、偶氮基—N=N—、乙炔基、腈基—C三N等。

助色团:有一些含有n电子的基团(如—OH、—OR、—NH2、—NHR、—X等),它们本身没有生色功能(不能吸收λ>200nm的光),但当它们与生色团相连时,就会发生n—π共轭作用,增强生色团的生色能力(吸收波长向长波

99. 举例说明紫外吸收光谱在分析上有哪些应用。 答:(1)定性分析:?max:化合物特性参数,可作为定性依据;有机化合物紫外吸收光谱:反映结构中生色团和助色团的特性,不完全反映分子特性;计算吸收峰波长,确定共扼体系等;甲苯与乙苯:谱图基本相同; 结构确定的辅助工具;

(2)定量分析:依据:朗伯-比耳定律:吸光度: A= ? b c。有机化合物结构的辅助解析。 (3)可获得的结构信息.如:(1)200-400nm 无吸收峰。饱和化合物,单烯。(2) 270-350 nm有吸收峰(ε=10-100)醛酮 n→π* 跃迁产生的R 带。(3) 250-300 nm 有中等强度的吸收峰(ε=200-2000),芳环的特征 吸收(具有精细解构的B带)。(4) 200-250 nm有强吸收峰(ε?104),表明含有一个共轭体系(K)带。共轭二烯:K带(?230 nm);????不饱和醛酮:K带?230 nm ,R带?310-330 nm,260nm,300 nm,330 nm有强吸收峰,3,4,5个双键的共轭体系 100. 异丙叉丙酮有两种异构体:CH3-C(CH3)=CH-CO-CH3及CH2=C(CH3)-CH2-CO-CH3。

它们的紫外吸收光谱为:(a)最大吸收波长在235nm处,?max=12000;(b)220nm以后没有强吸收。如何根据这两个光谱来判别上述异构体?试说明理由。 解:(a)是CH3-C(CH3)=CH-CO-CH3。(a)含共轭双键,导致吸收峰红移,其吸收强度也显著增加。而(b)中无共轭双键,在220nm后无吸收。 101. 红外光谱定性分析的基本依据是什么?简要叙述红外定性分析的过程。

答:定性分析的基本依据是红外吸收带的波长位置和吸收谱带的强度。定性分析的过程:(1)试样纯化;(2)了解试样的来源及性质和其他实验资料;(3)制样,记录红外吸收光谱;(4)谱图解析;如下例:(5)和标准谱图对照。

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O

HCOCH2CH2CH311801)?=1-8/2+4=1

O2)峰归属

3)可能的结构 H3CCOCH2CH31240 O

H3CH2CCOCH31160 102. 何谓“指纹区”?它有什么特点和用途?

答:是由于C-C 、C-O 、C-X单键的伸缩振动以及分子骨架中多数基团的弯曲振动而产生的吸收光谱,非常复杂,如同人的指纹一样,没有两人完全一样。只要在化学结构上存在微小的差异(如同系物、同分异构体和空间异构体),在指纹区的吸收都有明显的不同,所以,“指纹区”对化合物的鉴别很有用。 103. 为什么荧光光谱比吸收光谱更灵敏?

答:荧光激发态停留时间短、返回速度快的途径,发生的几率大,发光强度相对大;另外,荧光光谱强度与激发光源强度成正比。 104. 叙述STM和AFM的分析测试原理,比较STM和AFM的异同点。

答: 扫描隧道显微镜(STM)的基本原理是利用量子理论中的隧道效应 。将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极,当样品与针尖的距离非常接近时(通常小于1nm),在外加电场的作用下,电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极 。这种现象即是隧道效应。隧道电流 I 是电子波函数重叠的量度,与针尖和样品之间距离 S 和平均功函数 Φ 有关:

Vb 是加在针尖和样品之间的偏置电压,平均功函数,分别为针尖和样品的功函数,A 为常数,在真空条件下约等于1。扫描探针一般采用直径小于1mm的细金属丝,如钨丝、铂―铱丝等;被观测样品应具有一定导电性才可以产生隧道电流。

由上式可知,隧道电流强度对针尖与样品表面之间距非常敏感,如果距离 S 减小0.1nm,隧道电流 I 将增加一个数量级,因此,利用电子反馈线路控制隧道电流的恒定,并用压电陶瓷材料控制针尖在样品表面的扫描,则探针在垂直于样品方向上高低的变化就反映出了样品表面的起伏 ,见图1(a)。将针尖在样品表面扫描时运动的轨迹直接在荧光屏或记录纸上显示出来,就得到了样品表面态密度的分布或原子排列的图象。这种扫描方式可用于观察表面形貌起伏较大的样品,且可通过加在 z 向驱动器上的电压值推算表面起伏高度的数值,这是一种常用的扫描模式。对于起伏不大的样品表面,可以控制

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针尖高度守恒扫描,通过记录隧道电流的变化亦可得到表面态度的分布。这种扫描方式的特点是扫描速度快,能够减少噪音和热漂移对信号的影响,但一般不能用于观察表面起伏大于1nm的样品。

从式可知,在Vb和 I 保持不变的扫描过程中,如果功函数随样品表面的位置而异,也同样会引起探针与样品表面间距 S 的变化,因而也引起控制针尖高度的电压Vz的变化。如样品表面原子种类不同,或样品表面吸附有原子、分子时,由于不同种类的原子或分子团等具有不同的电子态密度和功函数,此时扫描隧道显微镜(STM)给出的等电子态密度轮廓不再对应于样品表面原子的起伏,而是表面原子起伏与不同原子和各自态密度组合后的综合效果。扫描隧道显微镜(STM)不能区分这两个因素,但用扫描隧道谱(STS)方法却能区分。利用表面功函数、偏置电压与隧道电流之间的关系,可以得到表面电子态和化学特性的有关信息。

原子力显微镜的基本原理是:利用针尖,通过杠杆或弹性元件把针尖轻轻压在待测表面上,使针尖在待测表面上作光栅扫描,或针尖固定,表面相对针尖作相应移动,针尖随表面的凹凸作起伏运动,用光学或电学方法测量起伏位移随位置的变化,于是得到表面三维轮廓图。

原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)的相同点是具有高分辨率,可得到样品三维结构,在不同的环境下工作;原子力显微镜(AFM)与扫描隧道显微镜(STM)最大的差别在于并非利用电子隧道效应,而是利用原子之间的范德华力(Van Der Waals Force)作用来呈现样品的表面特性。原子力显微镜适合导体、半导体和绝缘体,扫描隧道显微镜仅适合导体。 105. 简述X射线光电子能谱的分析特点。 答:X射线光电子能谱是以X射线光子激发样品材料产生光电子来分析材料成分和原子价态等。它的分析特点有:1.分析的成分是材料10nm以内的表层成分;2.可以通过对化学位移的分析,给出所含元素的化学结构;3.是一种无损分析方法(样品不被X射线分解);4.是一种超微量分析技术(分析时所需样品量少);5.是一种痕量分析方法(绝对灵敏度高)。但X射线光电子能谱分析相对灵敏度不高,只能检测出样品中含量在0.1%以上的组分。 106. 举例介绍STM和AFM在材料分析工作中的应用。

答. 与SEM,TEM,FIM相比,STM具有结构简单.分辨本领高等特点,可在真空.大气或液体环境下,在实空间内进行原位动态观察样品表面的原子组态,并可直接用于观察样品表面发生的物理或化学的动态过程及反应中原子的迁移过程等。STM除具有一定的横向分辨本领外,还具有极优异的纵向分辨本领,STM的横向分辨率达0.1nm,在与样品垂直的z方向,其分辨率高达0.01nm。由此可见,STM具有极优异的分辨本领,可有效的填补SEM,TEM,FIM的不足,而且,从仪器工作原理上看,STM对样品的尺寸形状没有任何限制,不破坏样品的表面结构。目前,STM已成功地用于单质金属.半导体等材料表面原子结构的直接观察。

扫描隧道显微镜不能测量绝缘体表面的形貌。1986年G.Binnig提出原子力显微镜(AFM)的概念,它不但可以测量绝缘体表面形貌,达到接近原子分辨,还可以测量表面

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原子间的力,测量表面的弹性.塑性.硬度.粘着力.摩擦力等性质。

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补充习题

21.解释X-ray的短波限?0?hc?1.24?10 与物质吸收限

eVVhc1.24?10 的物理意义。为何某物质的K系特征谱有Kα与Kβ

?eVkVk而其K系吸收限仅有一个?

答: 在各种管压下的射线谱都存在一个最短的波长值λ0,称为短波限。当入射X射线的光量子与物质原子中电子相互碰撞发生光电效应时,把K壳层电子击出所需要的入射光波长即为物质吸收限λk。

2.试样发出的荧光X射线,照射到分光晶体LiF的(200)面上分别在θ为16.555°,13.943°,和12.865°处探测到荧光射线,试问试样中有那些元素?已知LiF的d200=0.402nm。

?k?2答:根据公式:sin??2?24a2(h2?k2?l2)以及d?ah?k?l222 可得:

d??sin?,已知d=0.402nm,依据所给的3个不同Θ值:16.555,13.934,12.865可分

别求得:λ1=2.29,λ2=1.93λ3=1.79,查表得所能产生以上波长的对应的元素分别为:Cr,Fe和Co.

3.为什么说X衍射线束的强度与晶胞中的原子位置和种类有关? 答: 因为X射线强度取决于结构因子F,而结构因子会因晶胞中的原子位置和种类而不同。所以说X衍射线束的强度与晶胞中的原子位置和种类有关。

4.用Cu KαX射线摄得的Ni3Al德拜相上共有十条线对其θ角为:21.89°,25.55°,37.59°,45.66°,48.37°,59.46°,69.64°,74.05°,74.61°,已知Ni3Al为立方晶系,试标定指数,并求点阵常数。

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解:∵sinΘ1:sinΘ2:sinΘ3:… = N1:N2:N3:…

∴由题可得: 衍射线 N Ni/N1 hlk 序号 1 3 1 111 2 4 1.33 200 3 8 2.66 220 4 11 3.67 311 5 12 4 222 6 16 5.33 400 7 19 6.33 331

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