金立手机外观检验标准
6.4 手机结构定义
6.4.1 壳面:手机正面朝上水平放置,翻盖/滑盖处于关闭状态;壳体从上往下,依次被称为A壳/B壳/C壳/D壳。 6.4.2 电池盖:遮挡电池的壳面称为电池盖。
6.5 缺陷等级定义 缺陷分类 缺陷定义 缺陷举例 A壳B壳C壳D壳电池盖可能危及到用户生命如充电漏电，手机连接电脑漏电，电池漏液、鼓包，结构件有锐利的披锋，充电或财产安全的故障 器、电池起火冒烟，机内有晃动、金属异物等。 按照国家或行业相关可靠性实验中出现功能/结构件损坏；产品的包装、标贴缺失或不符合产品型号标准进行鉴定或认证名称、公司或生产厂家名称等信息；产品的 3C 等认证标志不符 3C 等认证的相不能通过的故障 严重缺陷 关法则要求； 1.在使用过程中能够感受到的结构问题：翻盖﹑滑盖受阻无效，按键无弹性卡死等缺陷； 2.LCD 显示的各种故障如：LCD 黑团、缺线，LED 灯不亮，； 导致用户拒绝购买或3.少或错附件配件如：漏或错组装其他手机零部件，部件配错（手机组件，配件，退机、投诉等的缺陷 附件），不同型号的产品混入等。单位包装内少放产品附近件如:电池、充电器、数据线、说明书、保修卡、合格证等。 4.标贴类错误如:少、错 IMEI 号、漏、错入网标贴、少防伪标签、少易碎标签、少防水标,电池、充电器等附件标识不符合三包要求或贴有不良标签标识。 严重影响用户体验，定制要求不符合的故障 结构的不良 功能点与用户说明书内容严重不符，软硬件、包装、标贴与运营商定制不符，手机信息、语言、手机设置等与定制不符。 影响可靠性的硬件、系统测试部例行批量质检测试所发现的各种影响产品可靠性的问题、和结构性不良。 用户能够勉强接受，防伪标签、3C 标签、版本区分标签错误，说明书版本错误,配置说明与标准品或重缺陷 但产品品牌会受到影封样品不一致（包括标签、丝印等），颜色标贴漏错、合格证漏（错）盖章、打响的故障 对用户有一定影响的故障，对用户体验有物料超期影响性能的故障 用户一般不易发现，轻缺陷 且国家规范无明确要求的故障 印错误、电池上无日期序号标签。 翻盖、滑盖不顺畅、有明显异音，按键行程严重不足、明显无手感，按键反应时间明显过长，按键明显异音。 较大的影响的故障。 电池标签上的生产日期不超过一年. 按键行程轻微不足，轻微现翻盖异音、不顺畅，轻微滑盖异音、不顺畅，偶尔按键响应时间过长，轻微按键异音(以上内容不影响用户体验) 深圳市金立通信设备有限公司内部机密文件,未经授权，不得向外传播。 Page １１ of 20
金立手机外观检验标准 用户完全能够接受的1.说明书、三包卡、包装彩盒的脏、破、皱等；产生歧义的异标签。说明书脱页、 轻微的产品故障
严重缺陷：指产品的不良造成产品无法使用，以及造成功能性的故障 重缺陷：指严重缺陷以外之缺点，其产品不良会导致用户退机
轻缺陷：指产品不良，虽然与理想标准有所差异，但其产品使用性，实质上不受影响。
注：在检验标准内不算缺陷，超出标准不良按严重，重，轻缺陷来进行区分。
有些外观检查中发现的问题会影响到产品的功能，则按照功能缺陷的标准来确定缺陷等级；如按键脱落会导致按键无功能，为主要缺陷。有些功能检查中发现的问题仅影响到产品观感，则按照外观缺陷的标准来确定缺陷等级；如按键漏光
2.无镜片保护膜、镜片保护膜破损、无包装袋
7. 外观检验标准
7.1 LCD/LCD镜片/TP/CTP/双 色模塑胶LCD显示透明区,外观标准见下表: 序 号 检验内容 缺陷名称 测试面 检验标准 D＜0.1. DS≥5，个数不计 A 1 同色点 B 0.1≤D≤0.2,N≤2,DS≥25 0.2＜D ≤0.25,N＝1 D＜0.1. DS≥5，个数不计 0.1≤D≤0.2,N≤2,DS≥25 0.2＜D≤0.3,N=1 D＜0.1. DS≥25，个数不计 A 2 LCD LCD镜片 TP/CTP 3 双色模塑胶轻划伤 透明区 A B 异色点 (黑白/彩点) B 0.1≤D ≤0.15,N＝2 DS≥25， 0.15＜D≤0.2,N=1 D＜0.1.DS≥25，个数不计 0.1≤D ≤0.15,N＝3 DS≥25， 0.15＜D≤0.2,N=2 ，DS≥25 W＜0.02，L≤5,DS≥10 个数不计 0.02≤W≤0.05,L≤3,N≤2,DS≥25 W≤0.1,L≤3,N=1 W＜0.02，L≤5,DS≥10 个数不计 4 线状缺陷 (纤维/毛絮） B 像素点/坏点 5 6 7 (在任何颜色界面都显示的不良点) 工具 方法 菲林片 菲林片 菲林片 菲林片 菲林片 菲林片 目视 缺陷等级 严重 重 √ √ √ √ √ √ √ √ √ √ √ √ 轻 √ √ √ √ √ √ A 0.02≤W≤0.05,L≤3,N≤2,DS≥25 半圆型不良按两点之间计算长度 圆形不良按点计算 W≤0.1,L≤3,N=1 不接受 不接受 不接受 A A/B A/B √ √ √ 气泡 硬划伤 深圳市金立通信设备有限公司内部机密文件,未经授权，不得向外传播。 Page １２ of 20
金立手机外观检验标准 手印/彩虹现象8 （牛顿环）/透明度差/变形/飞边批锋
7.2 塑胶壳体、按键组件、高亮金属饰件, 外观缺陷标准见下表: 序 号 检验 内容 缺陷名称 测试面 检验标准 D＜0.1.DS≥25，个数不计 0.1≤D ≤0.2, 且 DS≥25，N(单面) ≤2 D＜0.1.DS≥25，个数不计 C 0.1≤D ≤0.3,且DS≥25,N≤3 0.3＜D≤0.4, N (单面) ≤2 DS≥25 D＜0.1.DS≥25，个数不计 2 塑胶壳体 按键组件 同色点 3 金属饰件 C B 0.1≤D≤0.3,且 DS≥25,N(单面)≤2 0.3＜D≤0.4,N=1 D＜0.1.DS≥25，个数不计 0.1≤D≤0.4,且DS≥25,N≤3 0.4＜D≤0.5,且DS≥25,N≤2 B 4 细划伤 C 5 硬划伤 W≤0.15,L≤5,N≤2,DS≥25 W≤0.25,L≤5,N≤3,DS≥25 B/C/D 不接受 目视 7.3 塑胶壳体、按键组件、高亮金属饰件,其它缺陷外观标准见下表:
菲林片 √ √ √ W＜0.1,L≤3,N(单面)≤2,DS≥25 0.1≤W≤0.2,L≤3,N(单面)=1 菲林片 菲林片 菲林片 菲林片 工具 方法 菲林片 缺陷等级 严重 重 √ √ √ √ √ √ 轻 √ √ √ √ √ √ √ A/B 不接受 目视 √ B 1 异色点 序 号 1 2 检验 内容 缺陷名称 凹坑、压伤 折痕、污迹、指纹、锈斑、镀层脱落 熔接线、缩水、色差、浇口、毛刺 拉模、应力纹、翘曲、顶白、填充不足、银纹、流纹、烧焦、浇口、汽泡、露底、 测试面 检验标准 工具 方法 菲林片 目视 目视 目视 目视 目视 缺陷等级 严重 √ √ 重 √ √ √ √ √ 轻 B/C/D 按点、块标准执行 B/C/D 不允许 B/C B C / 参考限度样品 不允许 参考限度样品 不允许 塑胶壳体 3 按键组件 金属饰件 4 5 手写笔 笔头触点毛刺、锐利尖点、笔头松动 深圳市金立通信设备有限公司内部机密文件,未经授权，不得向外传播。 Page １３ of 20
金立手机外观检验标准 其它表面缺陷 6 I/O口 插拔后留有痕迹 7 断胶/溢胶 点胶后溢胶、断胶 8 9 摄像头 异物、毛丝 卡托 镭雕模糊不清、无法识别 C C B B B 按C面标准执行 不允许 不允许 毛丝不允许，不影响拍照效果的点状按照显示区标准执行 不允许 A 手机(点、线）缺陷允收总数 B(单面) C D 7.4 间隙缺陷外观标准见下表: 序号 工具方法 塞规 结果判定 严重 重 √ 轻 目视 目视 目视 目视 目视 2 2 4 5 检测辅助工具：菲林片 √ √ √ √ √ 检验项目 接受标准 ≤0.1mm（塑胶） ≤0.15mm（金属）不露扣位 更改后：≤0.1mm（间隙均匀，不露扣位） ≤0.15mm (不允许露白) 适用于普通机型 精品机型参考≤0.1mm (不允许露白) 更改后：≤0.1mm (间隙均匀，不允许露底材) ≤0.15mm 四周间隙差距≤0.1mm，间隙整体均匀适A壳与B壳间隙 A壳与大镜片/电容屏/电阻屏间隙 1 A壳与装饰件/条/片的间隙 塞规 √ 用于普通机型 精品机型参考≤0.1mm (不允许露白) 更改后：≤0.1mm (间隙均匀，不允许露底材) 塞规 √ 卡托与壳体配合间隙 ≤0.1mm（整体均匀） ≤0.5mm，四周间隙差距≤0.2mm，间隙均匀（适用于翻盖和滑盖机) ≤0.2mm 两边间隙差距≤0.1mm，间隙均匀（适用于塞规 √ B壳与C壳间隙 塞规 √ B壳与C壳转轴处间隙 翻盖机） 更改后：≤0.15mm 两边间隙差距≤0.1mm，间隙均匀（适用于翻盖机） 塞规 √ 2 B壳与大镜片/电容屏/电阻屏间隙 ≤0.15mm (不允许露白) 适用于普通机型 精品机型参考≤0.1mm (不允许露白) 更改后：≤0.1mm (间隙均匀，不允许露底材) ≤0.15mm 四周间隙差距≤0.1mm，间隙整体均匀适塞规 √ B壳与装饰件/条/片的间隙 用于普通机型 精品机型参考≤0.1mm (不允许露白) 更改后：≤0.1mm (间隙均匀，不允许露白) 塞规 √ 深圳市金立通信设备有限公司内部机密文件,未经授权，不得向外传播。 Page １４ of 20
金立手机外观检验标准 C壳与D壳间隙 3 C壳与装饰件/条/片的间隙 D壳与外置电池间隙 ≤0.15mm 四周间隙差距≤0.1mm，间隙整体均匀 更改后：≤0.1mm (间隙均匀，不允许露白) ≤0.2mm 两侧面及上下背面间隙差距≤0.1mm，间隙均匀且不露扣位. 塑胶≤0.15mm 金属电池盖≤0.2mm (两侧面及上下背面间隙差距≤0.1mm，间隙均匀且不露扣位) 适用于普通机型 4 D壳与电池盖间隙 精品机型参考≤0.1mm (不允许露白) 更改后：塑胶≤0.1mm，金属电池盖≤0.15mm (两侧面及上下背面间隙差距≤0.1mm，间隙均匀且不露扣位) D壳与装饰件/条/片的间隙 按键与镜片间隙 ≤0.15mm 四周间隙差距≤0.1mm，间隙均匀 更改后：≤0.1mm，间隙均匀 ≤0.3mm 间隙落差≤0.1mm 间隙均匀适用于普通机型 ≤0.2mm 间隙均匀 ≤0.3mm 间隙落差≤0.1mm 间隙均匀 (高KEY按键） ≤0.2mm 间隙均匀 ≤0.15mm 间隙落差≤0.1mm 间隙均匀(适用PC切割按键与按键 按键) ≤0.2mm 间隙均匀 按键与按键PC片材 侧按键与壳体间隙 6 胶塞与壳体的间隙 摄像头镜片与装饰件的间隙 7 手写笔与壳体配合间隙 拉杆天线与壳体间隙 ≤0.15mm 间隙均匀 ≤0.2mm 间隙均匀适用于普通机型 精品机型参考≤0.15mm ≤0.2mm 间隙均匀 ≤0.15mm 间隙均匀 塞规 塞规 塞规 塞规 √ √ √ √ 塞规 √ 塞规 √ 塞规 √ 塞规 √ ≤0.1mm（塑胶） ≤0.15mm（金属）不露扣位 更改后：≤0.1mm（间隙均匀，不露扣位） 塞规 √ 塞规 √ 塞规 √ 按键与A壳间隙 按键与C壳间隙 5 塞规 塞规 √ √ ≤0.2mm 间隙整体均匀 ≤0.2mm 间隙整体均匀 塞规 塞规 √ √ 7.5 断差缺陷外观标准见下表: 序号 1 检验项目 接受标准 工具 方法 塞规 结果判定 严重 重 √ 轻 壳体配合断差 ≤0.1mm (不刮手) 深圳市金立通信设备有限公司内部机密文件,未经授权，不得向外传播。 Page １５ of 20