双闭环可逆直流脉宽调速系统实验报告

实 验 报 告

课程名称 电力拖动自动控制实验

实验名称 双闭环可逆直流脉宽调速系统 一.实验目的

1.掌握双闭环可逆直流脉宽调速系统的组成、原理及各主要单元部件的工作原理。 2.熟悉直流PWM专用集成电路SG3525的组成、功能与工作原理。 3.熟悉H型PWM变换器的各种控制方式的原理与特点。

4.掌握双闭环可逆直流脉宽调速系统的调试步骤、方法及参数的整定。

三.实验系统的组成和工作原理

在中小容量的直流传动系统中,采用自关断器件的脉宽调速系统比相控系统具有更多的优越性,因而日益得到广泛应用。

双闭环脉宽调速系统的原理框图如图5-1所示。图中可逆PWM变换器主电路系采用IGBT所构成的H型结构形式,UPW为脉宽调制器,DLD为逻辑延时环节,GD为MOS管的栅极驱动电路,FA为瞬时动作的过流保护。

脉宽调制器UPW采用美国硅通用公司(Silicon General)的第二代产品SG3525,这是一种性能优良,功能全、通用性强的单片集成PWM控制器。由于它简单、可靠及使用方便灵活,大大简化了脉宽调制器的设计及调试,故获得广泛使用。

1.UPW模块的SG3525性能测试

(1)用示波器观察UPW模块的“1”端的电压波形,记录波

形的周期、幅度。

幅值UM=1.92V;周期为T=78.9us。

(2)用示波器观察“2”端的电压波形,调节RP2电位器,使方波的占空比为50%。

(3)用导线将给定模块“G”的“1”和“UPW”的“3”相连,分别调节正负给定,记录“2”端输出波形的最大占空比和最小占空比。

最大占空比α=0.745 最小占空比:α=0.0237 2.控制电路的测试 (1)逻辑延时时间的测试

在上述实验的基础上,分别将正、负给定均调到零,用示波器观察“DLD”的“1”和“2”端的输出波形,并记录延时时间td= 61μs 死区时间:t=3μs。

(2)同一桥臂上下管子驱动信号列区时间测试

用双踪示波器分别测量VVT1.GS和VVT2.GS以及VVT3.GS和VVT4.GS

的列区时间:

tdVT1.VT2= 3.03μs tdVT3.VT4=3.03μs 3.开环系统调试

(3)系统开环机械特性测定 n=1400r/min n(r/min) id(A)

1400 0.6 1350 0.67 1300 0.72 1250 0.8 1200 0.95

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