数字电路实验指导书
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数字电路实验指导书
计算机系用
计算机系硬件实验室
2实验一
逻辑门电路的研究
一、实验目的：
1．分析“门”的逻辑功能。
2．分析“门”的控制功能。
3．熟悉门电路的逻辑交换及其功能的测试方法。
二、实验使用仪器和器件：
1．数字逻辑电路学习机一台。
2．万用表一块。
三、实验内容和步骤：
1．TTL集成门逻辑功能的测试：
⑴“与非门”逻辑功能的测试：
在学习机上插入74LS10芯片，任选一个三输入端“与非门”按表1完成逻辑功能的
测试（输入“1”态可悬空或接5V，“0”态接地）。
表1
输入逻辑状态 输出逻辑
A B C
1 1 1
0 1 1
0 0 1
0 0 0
状态 电位（V）
⑵用“与或非”门实现Z=AB+C的逻辑功能：
在学习机上插入74LS54芯片，做Z=AB+C逻辑功能的测试，完成表2的功能测试并
记录。 3表 2
输入逻辑状态 输出逻辑
A B C
1 1 1
0 1 1
0 0 1
0 0 0
状态 电位（V）
注意：测试前应将与或非门不用的与门组做适当处理。 2．“门”控制功能的测试：
⑴“与非”门控制功能的测试：
按图1接线，设A为信号输入端，输入单脉冲，B为控制端接控制逻辑电平“0”或
“1”。输出端Z接发光二极管（LED）进行状态显示，高电平时亮。按表3进行测试，总
结“封门”“开门”的规律。
图1 “与非门”控制功能测试电路