IGBT
可靠性测试方?/p>
IGBT
的寿命通常长达数十?/p>
,
因此倘若不采取特殊的测试手段而使器件?/p>
正常情况下工作直至失效是不现实的?/p>
寻求一种有效地测试手段就显得非常必要?/p>
通常的测试手段有加速寿命测试(
HALT
?/p>
HighLyAcceLeratedLifeTest
?/p>
?/p>
HASS
?/p>
HighLyAcceLeratedStressScreen
?/p>
、功率循环、温度循环几种。本文着重介绍功
率循环和温度循环测试方法?/p>
1.
功率循环测试
在给定的温度和循环次数条件下,收集工作中器件的相关参数。在测试前,
器件的工作温度已经被调节到合适的点并且器件已经上电?/p>
功率循环可以通过?/p>
下几种方式实?/p>
[
7
]
?/p>
a)
恒功率:对于任何单个器件,功率在加热期间置为预先设定的值,在关?/p>
期间要么不加功率负载。这通常涉及开环控制,预先设定的值也会因散热
区别而异?/p>
b)
变功率:为了使散热达到最快的速率,在加热或散热期间功率出于变化状
态,此模式下闭环控制很受人们亲睐?/p>
c)
恒散热:同恒功率相匹配,散热要么控制在预先设定的值(散热期间或整
个测试期间)
,要么关断(加热期间?/p>
,此模式为开环控制;
d)
变散热:在加热或散热期间,散热的速率是变化的。此模式可增加循环?/p>
率?/p>
?/p>
1
是恒功率
/
恒散热和变功?/p>
/
恒散热测试的对比?/p>
?/p>
1
功率循环方式
2.
温度循环测试
将器件放在温度控制箱中,不断调节温度箱内的温度如?/p>
2
所示。通常情况
下,
实验将高温条件设?/p>
150
℃,
放置
20
分钟?/p>
低温设为
-
40
℃,
放置
20
分钟?/p>
常温
25
℃,放置
10
分钟。温度变化的步长大约
10
℃每分钟
[10]
?/p>
?/p>
2
温度循环测试方式