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IGBT

可靠性测试方?/p>

 

IGBT

的寿命通常长达数十?/p>

,

因此倘若不采取特殊的测试手段而使器件?/p>

正常情况下工作直至失效是不现实的?/p>

寻求一种有效地测试手段就显得非常必要?/p>

通常的测试手段有加速寿命测试(

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、功率循环、温度循环几种。本文着重介绍功

率循环和温度循环测试方法?/p>

 

1.

 

功率循环测试

 

在给定的温度和循环次数条件下,收集工作中器件的相关参数。在测试前,

器件的工作温度已经被调节到合适的点并且器件已经上电?/p>

功率循环可以通过?/p>

下几种方式实?/p>

[

7

]

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a)

 

恒功率:对于任何单个器件,功率在加热期间置为预先设定的值,在关?/p>

期间要么不加功率负载。这通常涉及开环控制,预先设定的值也会因散热

区别而异?/p>

 

b)

 

变功率:为了使散热达到最快的速率,在加热或散热期间功率出于变化状

态,此模式下闭环控制很受人们亲睐?/p>

 

c)

 

恒散热:同恒功率相匹配,散热要么控制在预先设定的值(散热期间或整

个测试期间)

,要么关断(加热期间?/p>

,此模式为开环控制;

 

d)

 

变散热:在加热或散热期间,散热的速率是变化的。此模式可增加循环?/p>

率?/p>

 

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1

是恒功率

/

恒散热和变功?/p>

/

恒散热测试的对比?/p>

 

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1

功率循环方式

 

2.

 

温度循环测试

 

将器件放在温度控制箱中,不断调节温度箱内的温度如?/p>

2

所示。通常情况

下,

实验将高温条件设?/p>

150

℃,

放置

20

分钟?/p>

低温设为

-

40

℃,

放置

20

分钟?/p>

常温

25

℃,放置

10

分钟。温度变化的步长大约

10

℃每分钟

[10]

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温度循环测试方式

 

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1.

 

功率循环测试

 

在给定的温度和循环次数条件下,收集工作中器件的相关参数。在测试前,

器件的工作温度已经被调节到合适的点并且器件已经上电?/p>

功率循环可以通过?/p>

下几种方式实?/p>

[

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a)

 

恒功率:对于任何单个器件,功率在加热期间置为预先设定的值,在关?/p>

期间要么不加功率负载。这通常涉及开环控制,预先设定的值也会因散热

区别而异?/p>

 

b)

 

变功率:为了使散热达到最快的速率,在加热或散热期间功率出于变化状

态,此模式下闭环控制很受人们亲睐?/p>

 

c)

 

恒散热:同恒功率相匹配,散热要么控制在预先设定的值(散热期间或整

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,要么关断(加热期间?/p>

,此模式为开环控制;

 

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变散热:在加热或散热期间,散热的速率是变化的。此模式可增加循环?/p>

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温度循环测试

 

将器件放在温度控制箱中,不断调节温度箱内的温度如?/p>

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所示。通常情况

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1.

 

功率循环测试

 

在给定的温度和循环次数条件下,收集工作中器件的相关参数。在测试前,

器件的工作温度已经被调节到合适的点并且器件已经上电?/p>

功率循环可以通过?/p>

下几种方式实?/p>

[

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a)

 

恒功率:对于任何单个器件,功率在加热期间置为预先设定的值,在关?/p>

期间要么不加功率负载。这通常涉及开环控制,预先设定的值也会因散热

区别而异?/p>

 

b)

 

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态,此模式下闭环控制很受人们亲睐?/p>

 

c)

 

恒散热:同恒功率相匹配,散热要么控制在预先设定的值(散热期间或整

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,要么关断(加热期间?/p>

,此模式为开环控制;

 

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温度循环测试

 

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I T可靠性测试方?- 百度文库
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1.

 

功率循环测试

 

在给定的温度和循环次数条件下,收集工作中器件的相关参数。在测试前,

器件的工作温度已经被调节到合适的点并且器件已经上电?/p>

功率循环可以通过?/p>

下几种方式实?/p>

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a)

 

恒功率:对于任何单个器件,功率在加热期间置为预先设定的值,在关?/p>

期间要么不加功率负载。这通常涉及开环控制,预先设定的值也会因散热

区别而异?/p>

 

b)

 

变功率:为了使散热达到最快的速率,在加热或散热期间功率出于变化状

态,此模式下闭环控制很受人们亲睐?/p>

 

c)

 

恒散热:同恒功率相匹配,散热要么控制在预先设定的值(散热期间或整

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,要么关断(加热期间?/p>

,此模式为开环控制;

 

d)

 

变散热:在加热或散热期间,散热的速率是变化的。此模式可增加循环?/p>

率?/p>

 

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1

是恒功率

/

恒散热和变功?/p>

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功率循环方式

 

2.

 

温度循环测试

 

将器件放在温度控制箱中,不断调节温度箱内的温度如?/p>

2

所示。通常情况

下,

实验将高温条件设?/p>

150

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