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1.

用压片法?/p>

La203

用淀粉做黏结剂,压好片后在空气中放置15分钟后,?/p>

来很好的样品在样杯中膨胀破碎了,为什?/p>

?

还有什么好的方法?

 

(1) 

一般压片样碎裂是由于样品受压之后有应力,导致样品破碎?/p>

 

我的建议是:

 

A 

压样之后在破碎之前进行分析。(不得已而为之)

 

B 

增加压样的时间,减小压样的压?/p>

. 

(2) 

请检查所用淀粉中是否含有水分?水份会导致风干破裂?/p>

 

(3) 

原则上应该按照样品测试标准进行测试,

一般情况下?/p>

制样有问题,

实际?/p>

已经不符合标准了?/p>

 

 

(4) 

减少试样?/p>

,

增大稀释比试试

. 

 

2.SPECTRO

的能量色?/p>

XRF

如何进行日常维护

?

当不进行样品分析?/p>

,X

光管该如

何处?/p>

?

 

主要是谱仪室内恒温恒湿(

22

度左右、湿?/p>

60%

以下),环境清洁,电源稳定,

避免震动。当不进行样品分析时

,X

光管电流电压应降至最低,仪器保持恒温

. 

 

3.

仅两重金属元素组成的合金?/p>

其中低含量元素为

 0.1% 

- 

25% 

共有

13

块标样,

如果标样精度为?/p>

0.01 

用目前水平的

XRF 

作标准曲线?/p>

其各点与直线和二次曲

线拟和的标准曲线偏差大约是多?/p>

?

 

(1) 

最重要的是要用自己的试样做标样?/p>

制样方法要和实际应用方法一致,

这样

可以克服基体效应?/p>

和矿物效应?/p>

标样可以通过湿法分析或者别的方法获得标?/p>

值?/p>

 

(2) 

是否有水分应该从以前的分析方法考虑,同时应该可以去除某些点

. 

(3) 

可用互标法!以主量元素作为内标!

 

(4) 0.0x

的含量可能会有大的偏差!

 

 

(5) 

标样含量分布合理,如做好共存元素基体校正,一次线会很理想。另外,?/p>

于含量分布较大,选好低含量样品的背景也很重要?/p>

 

 

4.

在熔融制样时,二氧化硅的污染总是存在,不知各位有何高见?

 

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用压片法?/p>

La203

用淀粉做黏结剂,压好片后在空气中放置15分钟后,?/p>

来很好的样品在样杯中膨胀破碎了,为什?/p>

?

还有什么好的方法?

 

(1) 

一般压片样碎裂是由于样品受压之后有应力,导致样品破碎?/p>

 

我的建议是:

 

A 

压样之后在破碎之前进行分析。(不得已而为之)

 

B 

增加压样的时间,减小压样的压?/p>

. 

(2) 

请检查所用淀粉中是否含有水分?水份会导致风干破裂?/p>

 

(3) 

原则上应该按照样品测试标准进行测试,

一般情况下?/p>

制样有问题,

实际?/p>

已经不符合标准了?/p>

 

 

(4) 

减少试样?/p>

,

增大稀释比试试

. 

 

2.SPECTRO

的能量色?/p>

XRF

如何进行日常维护

?

当不进行样品分析?/p>

,X

光管该如

何处?/p>

?

 

主要是谱仪室内恒温恒湿(

22

度左右、湿?/p>

60%

以下),环境清洁,电源稳定,

避免震动。当不进行样品分析时

,X

光管电流电压应降至最低,仪器保持恒温

. 

 

3.

仅两重金属元素组成的合金?/p>

其中低含量元素为

 0.1% 

- 

25% 

共有

13

块标样,

如果标样精度为?/p>

0.01 

用目前水平的

XRF 

作标准曲线?/p>

其各点与直线和二次曲

线拟和的标准曲线偏差大约是多?/p>

?

 

(1) 

最重要的是要用自己的试样做标样?/p>

制样方法要和实际应用方法一致,

这样

可以克服基体效应?/p>

和矿物效应?/p>

标样可以通过湿法分析或者别的方法获得标?/p>

值?/p>

 

(2) 

是否有水分应该从以前的分析方法考虑,同时应该可以去除某些点

. 

(3) 

可用互标法!以主量元素作为内标!

 

(4) 0.0x

的含量可能会有大的偏差!

 

 

(5) 

标样含量分布合理,如做好共存元素基体校正,一次线会很理想。另外,?/p>

于含量分布较大,选好低含量样品的背景也很重要?/p>

 

 

4.

在熔融制样时,二氧化硅的污染总是存在,不知各位有何高见?

 

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用压片法?/p>

La203

用淀粉做黏结剂,压好片后在空气中放置15分钟后,?/p>

来很好的样品在样杯中膨胀破碎了,为什?/p>

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还有什么好的方法?

 

(1) 

一般压片样碎裂是由于样品受压之后有应力,导致样品破碎?/p>

 

我的建议是:

 

A 

压样之后在破碎之前进行分析。(不得已而为之)

 

B 

增加压样的时间,减小压样的压?/p>

. 

(2) 

请检查所用淀粉中是否含有水分?水份会导致风干破裂?/p>

 

(3) 

原则上应该按照样品测试标准进行测试,

一般情况下?/p>

制样有问题,

实际?/p>

已经不符合标准了?/p>

 

 

(4) 

减少试样?/p>

,

增大稀释比试试

. 

 

2.SPECTRO

的能量色?/p>

XRF

如何进行日常维护

?

当不进行样品分析?/p>

,X

光管该如

何处?/p>

?

 

主要是谱仪室内恒温恒湿(

22

度左右、湿?/p>

60%

以下),环境清洁,电源稳定,

避免震动。当不进行样品分析时

,X

光管电流电压应降至最低,仪器保持恒温

. 

 

3.

仅两重金属元素组成的合金?/p>

其中低含量元素为

 0.1% 

- 

25% 

共有

13

块标样,

如果标样精度为?/p>

0.01 

用目前水平的

XRF 

作标准曲线?/p>

其各点与直线和二次曲

线拟和的标准曲线偏差大约是多?/p>

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(1) 

最重要的是要用自己的试样做标样?/p>

制样方法要和实际应用方法一致,

这样

可以克服基体效应?/p>

和矿物效应?/p>

标样可以通过湿法分析或者别的方法获得标?/p>

值?/p>

 

(2) 

是否有水分应该从以前的分析方法考虑,同时应该可以去除某些点

. 

(3) 

可用互标法!以主量元素作为内标!

 

(4) 0.0x

的含量可能会有大的偏差!

 

 

(5) 

标样含量分布合理,如做好共存元素基体校正,一次线会很理想。另外,?/p>

于含量分布较大,选好低含量样品的背景也很重要?/p>

 

 

4.

在熔融制样时,二氧化硅的污染总是存在,不知各位有何高见?

 

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X荧光分析问题总结 - 百度文库
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用压片法?/p>

La203

用淀粉做黏结剂,压好片后在空气中放置15分钟后,?/p>

来很好的样品在样杯中膨胀破碎了,为什?/p>

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还有什么好的方法?

 

(1) 

一般压片样碎裂是由于样品受压之后有应力,导致样品破碎?/p>

 

我的建议是:

 

A 

压样之后在破碎之前进行分析。(不得已而为之)

 

B 

增加压样的时间,减小压样的压?/p>

. 

(2) 

请检查所用淀粉中是否含有水分?水份会导致风干破裂?/p>

 

(3) 

原则上应该按照样品测试标准进行测试,

一般情况下?/p>

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实际?/p>

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(4) 

减少试样?/p>

,

增大稀释比试试

. 

 

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XRF

如何进行日常维护

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当不进行样品分析?/p>

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何处?/p>

?

 

主要是谱仪室内恒温恒湿(

22

度左右、湿?/p>

60%

以下),环境清洁,电源稳定,

避免震动。当不进行样品分析时

,X

光管电流电压应降至最低,仪器保持恒温

. 

 

3.

仅两重金属元素组成的合金?/p>

其中低含量元素为

 0.1% 

- 

25% 

共有

13

块标样,

如果标样精度为?/p>

0.01 

用目前水平的

XRF 

作标准曲线?/p>

其各点与直线和二次曲

线拟和的标准曲线偏差大约是多?/p>

?

 

(1) 

最重要的是要用自己的试样做标样?/p>

制样方法要和实际应用方法一致,

这样

可以克服基体效应?/p>

和矿物效应?/p>

标样可以通过湿法分析或者别的方法获得标?/p>

值?/p>

 

(2) 

是否有水分应该从以前的分析方法考虑,同时应该可以去除某些点

. 

(3) 

可用互标法!以主量元素作为内标!

 

(4) 0.0x

的含量可能会有大的偏差!

 

 

(5) 

标样含量分布合理,如做好共存元素基体校正,一次线会很理想。另外,?/p>

于含量分布较大,选好低含量样品的背景也很重要?/p>

 

 

4.

在熔融制样时,二氧化硅的污染总是存在,不知各位有何高见?

 



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