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一、实验目çš?/p>
1
、掌æ�?/p>
TTL
集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法
2
、掌æ�?/p>
TTL
器件的使用规åˆ?/p>
3
、进一步熟悉数字电路实验装置的结构,基本功能和使用方法
二、实验原ç�?/p>
本实验采用双四输入与非门
74LS20
,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个ä¸?/p>
非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图
1(a)
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(b)
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(c)
所示ã€?/p>
(b)
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a
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(c)
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1 74LS20
逻辑框图、逻辑符号及引脚排åˆ?/p>
1
、与非门的逻辑功能
与非门的逻辑功能是:
当输入端中有一个或一个以上是低电平时ï¼?/p>
输出端为高电平;
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有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即有â€?/p>
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”得â€?/p>
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,全â€?/p>
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其逻辑表达式为
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2
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TTL
与非门的主要参数
(1)
输出低电å¹?/p>
V
OL
:输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电å¹?/p>
值。测试电路如å›?/p>
2
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a
)所示ã€?/p>
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2
)输出高电平
V
OH
:输出高电平是指与非门有一个以上输入端接低电平时的输出ç”?/p>
平值。测试电路如å›?/p>
2
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b
)所示ã€?/p>