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实验一

   

集成“与非门”参数测?/p>

 

 

一、实验目?/p>

 

    1

、熟悉数字电路实验台?/p>

 

2

、熟?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成电路的特点及其使用方法;

 

3

、理?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成门参数的测试原理?/p>

 

4

、掌?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成门参数和逻辑功能的测试方法?/p>

 

 

二?/p>

TTL

与非门静态参数测试原?/p>

 

1

、空载导通电源电?/p>

I

CCL

(

或对应的空载导通功?/p>

P

ON

) 

I

CCL

是指输入端全部悬空(或输入端全部接高电平?/p>

,与非门处于导通状态时,电源提?/p>

的电流。将空载导通电?/p>

I

CCL

乘以电源电压就得到空载导通功?/p>

P

ON

,即

 

            P

ON

?/p>

I

CCL

*

V

CC

 

测试电路,如?/p>

1-1

所示?/p>

 

测试条件:输入端悬空或接高电平,输出空载?/p>

V

CC

=5V

?/p>

 

通常?/p>

74LS

系列每个与非门要求小?/p>

3mW

?/p>

注意?/p>

所测电流为芯片中所有与非门的总电

流?/p>

 

2

、空载截止电源电?/p>

I

CCH

(

或对应的空载截止功?/p>

P

OFF

) 

I

CCH

是指与非门至少有一个输入端接低电平,输出端开路时电源提供的电流。空载截?/p>

功?/p>

P

OFF

为空载截止时电源电流

I

CCH

与电源电压之积,?/p>

 

          P

OFF

?/p>

I

CCH

*

V

CC

 

测试电路如图

1

?/p>

2

所示。注意,被测量芯片的所有门均要有一个输入端接地?/p>

 

测试条件:输入端接低电平(或接地?/p>

,输出空载,

V

CC

=5V

?/p>

 

通常?/p>

74LS

系列每个与非门要求小?/p>

1mW

?/p>

注意?/p>

所测电流为芯片中所有与非门的总电

流?/p>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

、低电平输入电流

I

IL

 

与非门的低电平输入电?/p>

I

IL

是指被测输入端接低电平,其余输入端悬空或?/p>

V

CC

,输

出端空载时,

由被测输入端流出的电流值?/p>

因为门电路的输入电流通常就是前级门电路的?/p>

载电流,

其大小直接影响前级电路驱动负载的个数?/p>

所以这一参数非常重要?/p>

必要时要对门

的每个输入端进行测试?/p>

 

测试电路如图

1-3

所示?/p>

 

测试条件?/p>

被测输入端通过电流表接地,

其余输入端悬空或?/p>

V

CC

?/p>

输出空载?/p>

V

CC

=5V

?/p>

74LS

系列低电平输入电?/p>

I

IL

典型值为

0.4mA

?/p>

 

?/p>

 

 

 

 

mA 

 

 

 

?/p>

1-1 I

CCL

测试电路

 

 

 

 

 

I

CCL 

 

 

 

 

V

CC

 

 

 

 

 

 

 

 

?/p>

 

 

 

mA 

V

CC 

 

 

I

CCH 

 

 

 

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1-2I

CCH

测试电路

 

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实验一

   

集成“与非门”参数测?/p>

 

 

一、实验目?/p>

 

    1

、熟悉数字电路实验台?/p>

 

2

、熟?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成电路的特点及其使用方法;

 

3

、理?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成门参数的测试原理?/p>

 

4

、掌?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成门参数和逻辑功能的测试方法?/p>

 

 

二?/p>

TTL

与非门静态参数测试原?/p>

 

1

、空载导通电源电?/p>

I

CCL

(

或对应的空载导通功?/p>

P

ON

) 

I

CCL

是指输入端全部悬空(或输入端全部接高电平?/p>

,与非门处于导通状态时,电源提?/p>

的电流。将空载导通电?/p>

I

CCL

乘以电源电压就得到空载导通功?/p>

P

ON

,即

 

            P

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I

CCL

*

V

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测试电路,如?/p>

1-1

所示?/p>

 

测试条件:输入端悬空或接高电平,输出空载?/p>

V

CC

=5V

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通常?/p>

74LS

系列每个与非门要求小?/p>

3mW

?/p>

注意?/p>

所测电流为芯片中所有与非门的总电

流?/p>

 

2

、空载截止电源电?/p>

I

CCH

(

或对应的空载截止功?/p>

P

OFF

) 

I

CCH

是指与非门至少有一个输入端接低电平,输出端开路时电源提供的电流。空载截?/p>

功?/p>

P

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为空载截止时电源电流

I

CCH

与电源电压之积,?/p>

 

          P

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?/p>

I

CCH

*

V

CC

 

测试电路如图

1

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2

所示。注意,被测量芯片的所有门均要有一个输入端接地?/p>

 

测试条件:输入端接低电平(或接地?/p>

,输出空载,

V

CC

=5V

?/p>

 

通常?/p>

74LS

系列每个与非门要求小?/p>

1mW

?/p>

注意?/p>

所测电流为芯片中所有与非门的总电

流?/p>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

、低电平输入电流

I

IL

 

与非门的低电平输入电?/p>

I

IL

是指被测输入端接低电平,其余输入端悬空或?/p>

V

CC

,输

出端空载时,

由被测输入端流出的电流值?/p>

因为门电路的输入电流通常就是前级门电路的?/p>

载电流,

其大小直接影响前级电路驱动负载的个数?/p>

所以这一参数非常重要?/p>

必要时要对门

的每个输入端进行测试?/p>

 

测试电路如图

1-3

所示?/p>

 

测试条件?/p>

被测输入端通过电流表接地,

其余输入端悬空或?/p>

V

CC

?/p>

输出空载?/p>

V

CC

=5V

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74LS

系列低电平输入电?/p>

I

IL

典型值为

0.4mA

?/p>

 

?/p>

 

 

 

 

mA 

 

 

 

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1-1 I

CCL

测试电路

 

 

 

 

 

I

CCL 

 

 

 

 

V

CC

 

 

 

 

 

 

 

 

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mA 

V

CC 

 

 

I

CCH 

 

 

 

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CCH

测试电路

 

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集成“与非门”参数测?/p>

 

 

一、实验目?/p>

 

    1

、熟悉数字电路实验台?/p>

 

2

、熟?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成电路的特点及其使用方法;

 

3

、理?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成门参数的测试原理?/p>

 

4

、掌?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成门参数和逻辑功能的测试方法?/p>

 

 

二?/p>

TTL

与非门静态参数测试原?/p>

 

1

、空载导通电源电?/p>

I

CCL

(

或对应的空载导通功?/p>

P

ON

) 

I

CCL

是指输入端全部悬空(或输入端全部接高电平?/p>

,与非门处于导通状态时,电源提?/p>

的电流。将空载导通电?/p>

I

CCL

乘以电源电压就得到空载导通功?/p>

P

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,即

 

            P

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I

CCL

*

V

CC

 

测试电路,如?/p>

1-1

所示?/p>

 

测试条件:输入端悬空或接高电平,输出空载?/p>

V

CC

=5V

?/p>

 

通常?/p>

74LS

系列每个与非门要求小?/p>

3mW

?/p>

注意?/p>

所测电流为芯片中所有与非门的总电

流?/p>

 

2

、空载截止电源电?/p>

I

CCH

(

或对应的空载截止功?/p>

P

OFF

) 

I

CCH

是指与非门至少有一个输入端接低电平,输出端开路时电源提供的电流。空载截?/p>

功?/p>

P

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为空载截止时电源电流

I

CCH

与电源电压之积,?/p>

 

          P

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I

CCH

*

V

CC

 

测试电路如图

1

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2

所示。注意,被测量芯片的所有门均要有一个输入端接地?/p>

 

测试条件:输入端接低电平(或接地?/p>

,输出空载,

V

CC

=5V

?/p>

 

通常?/p>

74LS

系列每个与非门要求小?/p>

1mW

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注意?/p>

所测电流为芯片中所有与非门的总电

流?/p>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

、低电平输入电流

I

IL

 

与非门的低电平输入电?/p>

I

IL

是指被测输入端接低电平,其余输入端悬空或?/p>

V

CC

,输

出端空载时,

由被测输入端流出的电流值?/p>

因为门电路的输入电流通常就是前级门电路的?/p>

载电流,

其大小直接影响前级电路驱动负载的个数?/p>

所以这一参数非常重要?/p>

必要时要对门

的每个输入端进行测试?/p>

 

测试电路如图

1-3

所示?/p>

 

测试条件?/p>

被测输入端通过电流表接地,

其余输入端悬空或?/p>

V

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输出空载?/p>

V

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=5V

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74LS

系列低电平输入电?/p>

I

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典型值为

0.4mA

?/p>

 

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1-1 I

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测试电路

 

 

 

 

 

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V

CC

 

 

 

 

 

 

 

 

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mA 

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CCH

测试电路

 

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数子电子技术实验指导书 - 百度文库
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集成“与非门”参数测?/p>

 

 

一、实验目?/p>

 

    1

、熟悉数字电路实验台?/p>

 

2

、熟?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成电路的特点及其使用方法;

 

3

、理?/p>

TTL

?/p>

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集成门参数的测试原理?/p>

 

4

、掌?/p>

TTL

?/p>

CMOS

集成门参数和逻辑功能的测试方法?/p>

 

 

二?/p>

TTL

与非门静态参数测试原?/p>

 

1

、空载导通电源电?/p>

I

CCL

(

或对应的空载导通功?/p>

P

ON

) 

I

CCL

是指输入端全部悬空(或输入端全部接高电平?/p>

,与非门处于导通状态时,电源提?/p>

的电流。将空载导通电?/p>

I

CCL

乘以电源电压就得到空载导通功?/p>

P

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,即

 

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I

CCL

*

V

CC

 

测试电路,如?/p>

1-1

所示?/p>

 

测试条件:输入端悬空或接高电平,输出空载?/p>

V

CC

=5V

?/p>

 

通常?/p>

74LS

系列每个与非门要求小?/p>

3mW

?/p>

注意?/p>

所测电流为芯片中所有与非门的总电

流?/p>

 

2

、空载截止电源电?/p>

I

CCH

(

或对应的空载截止功?/p>

P

OFF

) 

I

CCH

是指与非门至少有一个输入端接低电平,输出端开路时电源提供的电流。空载截?/p>

功?/p>

P

OFF

为空载截止时电源电流

I

CCH

与电源电压之积,?/p>

 

          P

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?/p>

I

CCH

*

V

CC

 

测试电路如图

1

?/p>

2

所示。注意,被测量芯片的所有门均要有一个输入端接地?/p>

 

测试条件:输入端接低电平(或接地?/p>

,输出空载,

V

CC

=5V

?/p>

 

通常?/p>

74LS

系列每个与非门要求小?/p>

1mW

?/p>

注意?/p>

所测电流为芯片中所有与非门的总电

流?/p>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

、低电平输入电流

I

IL

 

与非门的低电平输入电?/p>

I

IL

是指被测输入端接低电平,其余输入端悬空或?/p>

V

CC

,输

出端空载时,

由被测输入端流出的电流值?/p>

因为门电路的输入电流通常就是前级门电路的?/p>

载电流,

其大小直接影响前级电路驱动负载的个数?/p>

所以这一参数非常重要?/p>

必要时要对门

的每个输入端进行测试?/p>

 

测试电路如图

1-3

所示?/p>

 

测试条件?/p>

被测输入端通过电流表接地,

其余输入端悬空或?/p>

V

CC

?/p>

输出空载?/p>

V

CC

=5V

?/p>

74LS

系列低电平输入电?/p>

I

IL

典型值为

0.4mA

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mA 

 

 

 

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1-1 I

CCL

测试电路

 

 

 

 

 

I

CCL 

 

 

 

 

V

CC

 

 

 

 

 

 

 

 

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mA 

V

CC 

 

 

I

CCH 

 

 

 

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1-2I

CCH

测试电路

 



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