实验一
集成“与非门”参数测?/p>
一、实验目?/p>
1
、熟悉数字电路实验台?/p>
2
、熟?/p>
TTL
?/p>
CMOS
集成电路的特点及其使用方法;
3
、理?/p>
TTL
?/p>
CMOS
集成门参数的测试原理?/p>
4
、掌?/p>
TTL
?/p>
CMOS
集成门参数和逻辑功能的测试方法?/p>
二?/p>
TTL
与非门静态参数测试原?/p>
1
、空载导通电源电?/p>
I
CCL
(
或对应的空载导通功?/p>
P
ON
)
I
CCL
是指输入端全部悬空(或输入端全部接高电平?/p>
,与非门处于导通状态时,电源提?/p>
的电流。将空载导通电?/p>
I
CCL
乘以电源电压就得到空载导通功?/p>
P
ON
,即
P
ON
?/p>
I
CCL
*
V
CC
测试电路,如?/p>
1-1
所示?/p>
测试条件:输入端悬空或接高电平,输出空载?/p>
V
CC
=5V
?/p>
通常?/p>
74LS
系列每个与非门要求小?/p>
3mW
?/p>
注意?/p>
所测电流为芯片中所有与非门的总电
流?/p>
2
、空载截止电源电?/p>
I
CCH
(
或对应的空载截止功?/p>
P
OFF
)
I
CCH
是指与非门至少有一个输入端接低电平,输出端开路时电源提供的电流。空载截?/p>
功?/p>
P
OFF
为空载截止时电源电流
I
CCH
与电源电压之积,?/p>
P
OFF
?/p>
I
CCH
*
V
CC
测试电路如图
1
?/p>
2
所示。注意,被测量芯片的所有门均要有一个输入端接地?/p>
测试条件:输入端接低电平(或接地?/p>
,输出空载,
V
CC
=5V
?/p>
通常?/p>
74LS
系列每个与非门要求小?/p>
1mW
?/p>
注意?/p>
所测电流为芯片中所有与非门的总电
流?/p>
3
、低电平输入电流
I
IL
与非门的低电平输入电?/p>
I
IL
是指被测输入端接低电平,其余输入端悬空或?/p>
V
CC
,输
出端空载时,
由被测输入端流出的电流值?/p>
因为门电路的输入电流通常就是前级门电路的?/p>
载电流,
其大小直接影响前级电路驱动负载的个数?/p>
所以这一参数非常重要?/p>
必要时要对门
的每个输入端进行测试?/p>
测试电路如图
1-3
所示?/p>
测试条件?/p>
被测输入端通过电流表接地,
其余输入端悬空或?/p>
V
CC
?/p>
输出空载?/p>
V
CC
=5V
?/p>
74LS
系列低电平输入电?/p>
I
IL
典型值为
0.4mA
?/p>
?/p>
mA
?/p>
1-1 I
CCL
测试电路
I
CCL
V
CC
?/p>
mA
V
CC
I
CCH
?/p>
1-2I
CCH
测试电路