1.X
射线产生的基本条件包括:产生自由电子的电子源、设置自由电子撞击靶、用以电子加
速、的高压、高真空环境?/p>
2..
?/p>
X
射线将某物质原子?/p>
K
层电子打出去后,
L
层电子回?/p>
K
层,多余能量将另一?/p>
L
?/p>
电子打出核外,这整个过程将产生光电子和俄歇电子?/p>
3.
结构因子表征了晶胞内原子的种?/p>
,
原子的个数、原子的位置对衍射强度的影响
?/p>
4.X
射线在晶体中产生衍射的充分必要条件是:满足布拉格方程和结构因?/p>
FHKL
?/p>
0.
5.
德拜法衍射花样的测量主要是测量衍射线条的相对位置和相对强度,
然后在计算出角?/p>
晶面间距?/p>
6.
银的
X
射线光电子能谱的存在
Ag 4s
峰?/p>
Ag 3p
峰?/p>
Ag 3s
峰?/p>
Ag 3d
峰四个特征峰,其中强
度最大的峰是
Ag 3d
?/p>
7.
原子力显微镜中利用斥力与吸引力的方式发展出三种接触模式?/p>
非接触模式和轻敲模式?/p>
作模式?/p>
8.XPS
光电子能谱图中通常会出?/p>
X
射线卫星峰、能量损失峰、自旋轨道分裂峰、俄歇电?/p>
峰和振离和振激峰等
5
种伴峰?/p>
9.
俄歇电子能谱谱线
KL1L2,K
表示空穴所在壳?/p>
L1
表示填充空穴电子所在壳?/p>
L2_
表示俄歇
电子所在壳?/p>
10.X
射线衍射仪由
X
射线发生器?/p>
X
射线测角仪?/p>
辐射探测器和辐射探测电路
4
个基本部?/p>
组成,现?/p>
X
射线衍射仪还配有控制操作和运行软件的计算机系统?/p>
11.
球差即球面像差,
是由于电磁透镜的近轴区域磁场与远轴区域磁场对电子的折射能力不符合预定的规律造成
的;
像散是由透镜磁场的非旋转对称引起的;
色差是由于入射电子的波长或能量不同或变化
所造成的?/p>
12.
透射电镜主要由电子光学系统、供电控制系统、真空系统三部分组成?/p>
13.
利用电磁线圈
激磁的电磁透镜,通过调节激磁电流可以很方便地调节磁场强度,从而调节焦距?/p>
14.
原子力显微镜
?/p>
AFM
?/p>
与扫描隧道显微镜
?/p>
STM
?/p>
最大的差别在于并非利用电子隧道效应?/p>
而是检测原子之间的相互作用?/p>
等来呈现样品的表面特性?/p>
15.
核磁共振的化学位移是由于
核外电子的屏蔽效应而造成?/p>
,
化学位移值是以标准物质(
TMS
)为相对标准得到的?/p>
16.
在甲基自由基中,三个质子与未成对电子等同的相互作用,?/p>
ESR
谱由
4
重峰组成,相
对强度比
1:3:3:1.
17.
影响红外吸收峰谱带位移的内部因素有空间效应、振动耦合、费米共振、氢键效应四?/p>
.
18.
在程序控温条件下,示差扫描量热分析(
DSC
)是测定补偿功率与环境温度的关系,而差
热分?/p>
?/p>
DTA
?/p>
是测定物质和参比物的温度?/p>
与环境温度的关系?/p>
因?/p>
DSC
能用于定量热?/p>
析上?/p>
19.
最基本?/p>
X
射线衍射实验方法有三种:劳厄发、转晶法、粉末法?/p>
20.
粉末法测衍射线强度时,影?/p>
X
射线衍射强度的因子有结构因子、角因子、多重性因子?/p>
温度因子、吸收因子?/p>
21.
宏观应力是多个晶粒范围内存在的保持平衡的应力,它能引起衍射线位移;微观应力是
少数晶粒或若干原子范围内存在保持平衡的应力,它能引起衍射线位移或者强度变化?/p>
22.
电子与物质相互作用,可产生二次电子,背散射电子,俄歇电子,特?/p>
X
射线等用于观
测样品形貌或成分的主要信号?/p>
23.
通过调整中间镜的透镜电流,使中间镜的物平面与物镜的背焦面重合,可在荧光屏上得
到衍射花?/p>
;
若使中间镜的物平面与物镜的像平面重合则得到显微像?/p>
24.
透射电镜的分辨率主要与物镜的分辨率有关,扫描电镜的分辨率主要与电子束的直?/p>
?/p>
?/p>
.
25.
使用
60.0MHZ NMR
仪时?/p>
TMS
的共振峰与化合物的某质子共振峰之间的频率差为
120HZ
?