2-1 OLMC
(输出逻辑宏单元)有何功能
?
说明
GAL
是怎样实现可编程组合电?/p>
与时序电路的?/p>
P34-36
OLMC
有何功能
?
答:
OLMC
单元设有多种组态,可配置成专用组合输出、专用输
入、组合输出双向口、寄存器输出、寄存器输出双向口等?/p>
说明
GAL
是怎样实现可编程组合电路与时序电路?/p>
?
答:
GAL
(通用阵列逻辑?/p>
件)是通过对其中的
OLMC
(逻辑宏单元)的编程和三种模式配置(寄存器模式?/p>
复合模式、简单模式),实现组合电路与时序电路设计的?/p>
2-2
什么是基于乘积项的可编程逻辑结构
? P33-34
?/p>
40
什么是基于查找表的
可编程逻辑结构
? P40-42
什么是基于乘积项的可编程逻辑结构
?
答:
GAL
?/p>
CPLD
之类都是基于乘积项的?/p>
编程结构;即包含有可编程与阵列和固定的或阵列?/p>
PAL
(可编程阵列逻辑?/p>
器件构成?/p>
什么是基于查找表的可编程逻辑结构
?
答:
FPGA
(现场可编程门阵列)是基于查
找表的可编程逻辑结构?/p>
2-3 FPGA
系列器件中的
LAB
有何作用
? P42-44
答:
FPGA
?/p>
Cyclone/Cyclone II
)系列器件主要由逻辑阵列?/p>
LAB
、嵌入式?/p>
储器块(
EAB
)?/p>
I/O
单元、嵌入式硬件乘法器和
PLL
等模块构成;其中
LAB
(逻辑阵列块)由一系列相邻?/p>
LE
(逻辑单元)构成的?/p>
FPGA
可编程资源主?/p>
来自逻辑阵列?/p>
LAB
?/p>
2-4
与传统的测试技术相比,边界扫描技术有何优?/p>
?
P47-50
答:
使用
BST
(边界扫描测试)规范测试,不必使用物理探针,可在器件正常
工作时在系统捕获测量的功能数据。克服传统的外探针测试法和“针床”夹?/p>
测试法来无法?/p>
IC
内部节点无法测试的难题?/p>
2-5
解释编程与配置这两个概念?/p>
P51-56
答:编程?/p>
基于电可擦除存储单元?/p>
EEPROM
?/p>
Flash
技术?/p>
CPLD
一股使用此
技术进行编程?/p>
CPLD
被编程后改变了电可擦除存储单元中的信息,掉电后可?/p>
存。电可擦除编程工艺的优点是编程后信息不会因掉电而丢失,但编程次数有
限,编程的速度不快?/p>
配置?/p>
基于
SRAM
查找表的编程单元。编程信息是保存?/p>
SRAM
中的?/p>
SRAM
在掉
电后编程信息立即丢失,在下次上电后,还需要重新载入编程信息。大部分
FPGA
采用该种编程工艺。该类器件的编程一般称为配置。对?/p>
SRAM
?/p>
FPGA
?/p>
说,配置次数无限,且速度快;在加电时可随时更改逻辑;下载信息的保密?/p>
也不如电可擦除的编程?/p>