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2-1 OLMC

(输出逻辑宏单元)有何功能

?

说明

GAL

是怎样实现可编程组合电?/p>

与时序电路的?/p>

 P34-36 

OLMC

有何功能

?

 

答:

OLMC

单元设有多种组态,可配置成专用组合输出、专用输

入、组合输出双向口、寄存器输出、寄存器输出双向口等?/p>

 

说明

GAL

是怎样实现可编程组合电路与时序电路?/p>

?

 

答:

GAL

(通用阵列逻辑?/p>

件)是通过对其中的

OLMC

(逻辑宏单元)的编程和三种模式配置(寄存器模式?/p>

复合模式、简单模式),实现组合电路与时序电路设计的?/p>

 

2-2 

什么是基于乘积项的可编程逻辑结构

? P33-34

?/p>

40 

什么是基于查找表的

可编程逻辑结构

? P40-42 

什么是基于乘积项的可编程逻辑结构

?

答:

GAL

?/p>

CPLD

之类都是基于乘积项的?/p>

编程结构;即包含有可编程与阵列和固定的或阵列?/p>

PAL

(可编程阵列逻辑?/p>

器件构成?/p>

 

什么是基于查找表的可编程逻辑结构

?

答:

FPGA

(现场可编程门阵列)是基于查

找表的可编程逻辑结构?/p>

 

2-3 FPGA

系列器件中的

LAB

有何作用

? P42-44 

答:

FPGA

?/p>

Cyclone/Cyclone II

)系列器件主要由逻辑阵列?/p>

LAB

、嵌入式?/p>

储器块(

EAB

)?/p>

I/O

单元、嵌入式硬件乘法器和

PLL

等模块构成;其中

LAB

(逻辑阵列块)由一系列相邻?/p>

LE

(逻辑单元)构成的?/p>

FPGA

可编程资源主?/p>

来自逻辑阵列?/p>

LAB

?/p>

 2-4 

与传统的测试技术相比,边界扫描技术有何优?/p>

? 

P47-50 

答:

使用

BST

(边界扫描测试)规范测试,不必使用物理探针,可在器件正常

工作时在系统捕获测量的功能数据。克服传统的外探针测试法和“针床”夹?/p>

测试法来无法?/p>

IC

内部节点无法测试的难题?/p>

 

2-5 

解释编程与配置这两个概念?/p>

 P51-56 

答:编程?/p>

基于电可擦除存储单元?/p>

EEPROM

?/p>

Flash

技术?/p>

CPLD

一股使用此

技术进行编程?/p>

CPLD

被编程后改变了电可擦除存储单元中的信息,掉电后可?/p>

存。电可擦除编程工艺的优点是编程后信息不会因掉电而丢失,但编程次数有

限,编程的速度不快?/p>

 

配置?/p>

基于

SRAM

查找表的编程单元。编程信息是保存?/p>

SRAM

中的?/p>

SRAM

在掉

电后编程信息立即丢失,在下次上电后,还需要重新载入编程信息。大部分

FPGA

采用该种编程工艺。该类器件的编程一般称为配置。对?/p>

SRAM

?/p>

FPGA

?/p>

说,配置次数无限,且速度快;在加电时可随时更改逻辑;下载信息的保密?/p>

也不如电可擦除的编程?/p>

 

 

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2-1 OLMC

(输出逻辑宏单元)有何功能

?

说明

GAL

是怎样实现可编程组合电?/p>

与时序电路的?/p>

 P34-36 

OLMC

有何功能

?

 

答:

OLMC

单元设有多种组态,可配置成专用组合输出、专用输

入、组合输出双向口、寄存器输出、寄存器输出双向口等?/p>

 

说明

GAL

是怎样实现可编程组合电路与时序电路?/p>

?

 

答:

GAL

(通用阵列逻辑?/p>

件)是通过对其中的

OLMC

(逻辑宏单元)的编程和三种模式配置(寄存器模式?/p>

复合模式、简单模式),实现组合电路与时序电路设计的?/p>

 

2-2 

什么是基于乘积项的可编程逻辑结构

? P33-34

?/p>

40 

什么是基于查找表的

可编程逻辑结构

? P40-42 

什么是基于乘积项的可编程逻辑结构

?

答:

GAL

?/p>

CPLD

之类都是基于乘积项的?/p>

编程结构;即包含有可编程与阵列和固定的或阵列?/p>

PAL

(可编程阵列逻辑?/p>

器件构成?/p>

 

什么是基于查找表的可编程逻辑结构

?

答:

FPGA

(现场可编程门阵列)是基于查

找表的可编程逻辑结构?/p>

 

2-3 FPGA

系列器件中的

LAB

有何作用

? P42-44 

答:

FPGA

?/p>

Cyclone/Cyclone II

)系列器件主要由逻辑阵列?/p>

LAB

、嵌入式?/p>

储器块(

EAB

)?/p>

I/O

单元、嵌入式硬件乘法器和

PLL

等模块构成;其中

LAB

(逻辑阵列块)由一系列相邻?/p>

LE

(逻辑单元)构成的?/p>

FPGA

可编程资源主?/p>

来自逻辑阵列?/p>

LAB

?/p>

 2-4 

与传统的测试技术相比,边界扫描技术有何优?/p>

? 

P47-50 

答:

使用

BST

(边界扫描测试)规范测试,不必使用物理探针,可在器件正常

工作时在系统捕获测量的功能数据。克服传统的外探针测试法和“针床”夹?/p>

测试法来无法?/p>

IC

内部节点无法测试的难题?/p>

 

2-5 

解释编程与配置这两个概念?/p>

 P51-56 

答:编程?/p>

基于电可擦除存储单元?/p>

EEPROM

?/p>

Flash

技术?/p>

CPLD

一股使用此

技术进行编程?/p>

CPLD

被编程后改变了电可擦除存储单元中的信息,掉电后可?/p>

存。电可擦除编程工艺的优点是编程后信息不会因掉电而丢失,但编程次数有

限,编程的速度不快?/p>

 

配置?/p>

基于

SRAM

查找表的编程单元。编程信息是保存?/p>

SRAM

中的?/p>

SRAM

在掉

电后编程信息立即丢失,在下次上电后,还需要重新载入编程信息。大部分

FPGA

采用该种编程工艺。该类器件的编程一般称为配置。对?/p>

SRAM

?/p>

FPGA

?/p>

说,配置次数无限,且速度快;在加电时可随时更改逻辑;下载信息的保密?/p>

也不如电可擦除的编程?/p>

 

 

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2-1 OLMC

(输出逻辑宏单元)有何功能

?

说明

GAL

是怎样实现可编程组合电?/p>

与时序电路的?/p>

 P34-36 

OLMC

有何功能

?

 

答:

OLMC

单元设有多种组态,可配置成专用组合输出、专用输

入、组合输出双向口、寄存器输出、寄存器输出双向口等?/p>

 

说明

GAL

是怎样实现可编程组合电路与时序电路?/p>

?

 

答:

GAL

(通用阵列逻辑?/p>

件)是通过对其中的

OLMC

(逻辑宏单元)的编程和三种模式配置(寄存器模式?/p>

复合模式、简单模式),实现组合电路与时序电路设计的?/p>

 

2-2 

什么是基于乘积项的可编程逻辑结构

? P33-34

?/p>

40 

什么是基于查找表的

可编程逻辑结构

? P40-42 

什么是基于乘积项的可编程逻辑结构

?

答:

GAL

?/p>

CPLD

之类都是基于乘积项的?/p>

编程结构;即包含有可编程与阵列和固定的或阵列?/p>

PAL

(可编程阵列逻辑?/p>

器件构成?/p>

 

什么是基于查找表的可编程逻辑结构

?

答:

FPGA

(现场可编程门阵列)是基于查

找表的可编程逻辑结构?/p>

 

2-3 FPGA

系列器件中的

LAB

有何作用

? P42-44 

答:

FPGA

?/p>

Cyclone/Cyclone II

)系列器件主要由逻辑阵列?/p>

LAB

、嵌入式?/p>

储器块(

EAB

)?/p>

I/O

单元、嵌入式硬件乘法器和

PLL

等模块构成;其中

LAB

(逻辑阵列块)由一系列相邻?/p>

LE

(逻辑单元)构成的?/p>

FPGA

可编程资源主?/p>

来自逻辑阵列?/p>

LAB

?/p>

 2-4 

与传统的测试技术相比,边界扫描技术有何优?/p>

? 

P47-50 

答:

使用

BST

(边界扫描测试)规范测试,不必使用物理探针,可在器件正常

工作时在系统捕获测量的功能数据。克服传统的外探针测试法和“针床”夹?/p>

测试法来无法?/p>

IC

内部节点无法测试的难题?/p>

 

2-5 

解释编程与配置这两个概念?/p>

 P51-56 

答:编程?/p>

基于电可擦除存储单元?/p>

EEPROM

?/p>

Flash

技术?/p>

CPLD

一股使用此

技术进行编程?/p>

CPLD

被编程后改变了电可擦除存储单元中的信息,掉电后可?/p>

存。电可擦除编程工艺的优点是编程后信息不会因掉电而丢失,但编程次数有

限,编程的速度不快?/p>

 

配置?/p>

基于

SRAM

查找表的编程单元。编程信息是保存?/p>

SRAM

中的?/p>

SRAM

在掉

电后编程信息立即丢失,在下次上电后,还需要重新载入编程信息。大部分

FPGA

采用该种编程工艺。该类器件的编程一般称为配置。对?/p>

SRAM

?/p>

FPGA

?/p>

说,配置次数无限,且速度快;在加电时可随时更改逻辑;下载信息的保密?/p>

也不如电可擦除的编程?/p>

 

 

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EDA技术实用教?潘松第五版第二章 - 百度文库
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2-1 OLMC

(输出逻辑宏单元)有何功能

?

说明

GAL

是怎样实现可编程组合电?/p>

与时序电路的?/p>

 P34-36 

OLMC

有何功能

?

 

答:

OLMC

单元设有多种组态,可配置成专用组合输出、专用输

入、组合输出双向口、寄存器输出、寄存器输出双向口等?/p>

 

说明

GAL

是怎样实现可编程组合电路与时序电路?/p>

?

 

答:

GAL

(通用阵列逻辑?/p>

件)是通过对其中的

OLMC

(逻辑宏单元)的编程和三种模式配置(寄存器模式?/p>

复合模式、简单模式),实现组合电路与时序电路设计的?/p>

 

2-2 

什么是基于乘积项的可编程逻辑结构

? P33-34

?/p>

40 

什么是基于查找表的

可编程逻辑结构

? P40-42 

什么是基于乘积项的可编程逻辑结构

?

答:

GAL

?/p>

CPLD

之类都是基于乘积项的?/p>

编程结构;即包含有可编程与阵列和固定的或阵列?/p>

PAL

(可编程阵列逻辑?/p>

器件构成?/p>

 

什么是基于查找表的可编程逻辑结构

?

答:

FPGA

(现场可编程门阵列)是基于查

找表的可编程逻辑结构?/p>

 

2-3 FPGA

系列器件中的

LAB

有何作用

? P42-44 

答:

FPGA

?/p>

Cyclone/Cyclone II

)系列器件主要由逻辑阵列?/p>

LAB

、嵌入式?/p>

储器块(

EAB

)?/p>

I/O

单元、嵌入式硬件乘法器和

PLL

等模块构成;其中

LAB

(逻辑阵列块)由一系列相邻?/p>

LE

(逻辑单元)构成的?/p>

FPGA

可编程资源主?/p>

来自逻辑阵列?/p>

LAB

?/p>

 2-4 

与传统的测试技术相比,边界扫描技术有何优?/p>

? 

P47-50 

答:

使用

BST

(边界扫描测试)规范测试,不必使用物理探针,可在器件正常

工作时在系统捕获测量的功能数据。克服传统的外探针测试法和“针床”夹?/p>

测试法来无法?/p>

IC

内部节点无法测试的难题?/p>

 

2-5 

解释编程与配置这两个概念?/p>

 P51-56 

答:编程?/p>

基于电可擦除存储单元?/p>

EEPROM

?/p>

Flash

技术?/p>

CPLD

一股使用此

技术进行编程?/p>

CPLD

被编程后改变了电可擦除存储单元中的信息,掉电后可?/p>

存。电可擦除编程工艺的优点是编程后信息不会因掉电而丢失,但编程次数有

限,编程的速度不快?/p>

 

配置?/p>

基于

SRAM

查找表的编程单元。编程信息是保存?/p>

SRAM

中的?/p>

SRAM

在掉

电后编程信息立即丢失,在下次上电后,还需要重新载入编程信息。大部分

FPGA

采用该种编程工艺。该类器件的编程一般称为配置。对?/p>

SRAM

?/p>

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说,配置次数无限,且速度快;在加电时可随时更改逻辑;下载信息的保密?/p>

也不如电可擦除的编程?/p>

 

 



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