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样品

名称

 

金属间化合物

 

样品数量

 

2 

样品

编号

及对

应尺

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1

?/p>

5-10mm

的原片两个,

2

?/p>

5-10mm

的原片两个,如果一号效果好则先可以继续做二号,如果效果

不好只做一?/p>

,

两个厚度均在

50

微米以下

 

?/p>

?/p>

性质

 

磁?/p>

 

酸?/p>

 

?/p>

?

 

放射

?/p>

 

腐蚀

?

 

毒?

 

挥发?/p>

 

?/p>

?/p>

 

存放

要求

 

室温(默认)

 

 

 

 

 

 

 

 

冷藏?℃)

 

避光

 

其他

 

☆☆?/p>

由于样品本身原因,比如块体样品中第二相体积分数太小,粉体样品中杂质含量高、电子束辐照不稳

定等非技术问题而导致的实验失败,仍需全额支付承检方样品制样费用和基本上机费用?/p>

 

              

 

实验参数要求

 

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?/p>

?/p>

?/p>

 

形貌?/p>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

高分辨像

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

明场/暗场?/p>

 

能谱点测

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

能谱线扫

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

能谱面扫

 

选区电子衍射

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

纳米材料制样

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

常规离子减薄制样

 

截面样品制备

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

其他特殊测试

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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?

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是否具有特征方向?/p>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

备注?/p>

 

文献显示

NiAl

相的

(110)

面大多平行于面心立方基体?/p>

(111)

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,NiAl

析出相的长轴方向平行?/p>

[121]NiAl,

垂直?/p>

[101]NiAl,

 

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(b) Ni2Al3Ho [111], (c) Ni2Al3Ho [112] and (d) Ni2AlHf [110]

 

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样品

名称

 

金属间化合物

 

样品数量

 

2 

样品

编号

及对

应尺

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1

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5-10mm

的原片两个,

2

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5-10mm

的原片两个,如果一号效果好则先可以继续做二号,如果效果

不好只做一?/p>

,

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微米以下

 

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腐蚀

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存放

要求

 

室温(默认)

 

 

 

 

 

 

 

 

冷藏?℃)

 

避光

 

其他

 

☆☆?/p>

由于样品本身原因,比如块体样品中第二相体积分数太小,粉体样品中杂质含量高、电子束辐照不稳

定等非技术问题而导致的实验失败,仍需全额支付承检方样品制样费用和基本上机费用?/p>

 

              

 

实验参数要求

 

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形貌?/p>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

高分辨像

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

明场/暗场?/p>

 

能谱点测

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

能谱线扫

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

能谱面扫

 

选区电子衍射

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

纳米材料制样

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

常规离子减薄制样

 

截面样品制备

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

其他特殊测试

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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面大多平行于面心立方基体?/p>

(111)

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[121]NiAl,

垂直?/p>

[101]NiAl,

 

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(b) Ni2Al3Ho [111], (c) Ni2Al3Ho [112] and (d) Ni2AlHf [110]

 

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样品

名称

 

金属间化合物

 

样品数量

 

2 

样品

编号

及对

应尺

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1

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5-10mm

的原片两个,

2

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,

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存放

要求

 

室温(默认)

 

 

 

 

 

 

 

 

冷藏?℃)

 

避光

 

其他

 

☆☆?/p>

由于样品本身原因,比如块体样品中第二相体积分数太小,粉体样品中杂质含量高、电子束辐照不稳

定等非技术问题而导致的实验失败,仍需全额支付承检方样品制样费用和基本上机费用?/p>

 

              

 

实验参数要求

 

?/p>

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形貌?/p>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

高分辨像

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

明场/暗场?/p>

 

能谱点测

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

能谱线扫

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

能谱面扫

 

选区电子衍射

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

纳米材料制样

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

常规离子减薄制样

 

截面样品制备

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

其他特殊测试

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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备注?/p>

 

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NiAl

相的

(110)

面大多平行于面心立方基体?/p>

(111)

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析出相的长轴方向平行?/p>

[121]NiAl,

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(b) Ni2Al3Ho [111], (c) Ni2Al3Ho [112] and (d) Ni2AlHf [110]

 

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透射电子显微?TEM)(金属制样+测试)-诗人 - 百度文库
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样品

名称

 

金属间化合物

 

样品数量

 

2 

样品

编号

及对

应尺

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1

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5-10mm

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2

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的原片两个,如果一号效果好则先可以继续做二号,如果效果

不好只做一?/p>

,

两个厚度均在

50

微米以下

 

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性质

 

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放射

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腐蚀

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存放

要求

 

室温(默认)

 

 

 

 

 

 

 

 

冷藏?℃)

 

避光

 

其他

 

☆☆?/p>

由于样品本身原因,比如块体样品中第二相体积分数太小,粉体样品中杂质含量高、电子束辐照不稳

定等非技术问题而导致的实验失败,仍需全额支付承检方样品制样费用和基本上机费用?/p>

 

              

 

实验参数要求

 

?/p>

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?/p>

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形貌?/p>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

高分辨像

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

明场/暗场?/p>

 

能谱点测

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

能谱线扫

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

能谱面扫

 

选区电子衍射

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

纳米材料制样

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

常规离子减薄制样

 

截面样品制备

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

其他特殊测试

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

?/p>

?

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是否具有特征方向?/p>

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

备注?/p>

 

文献显示

NiAl

相的

(110)

面大多平行于面心立方基体?/p>

(111)

?/p>

,NiAl

析出相的长轴方向平行?/p>

[121]NiAl,

垂直?/p>

[101]NiAl,

 

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(b) Ni2Al3Ho [111], (c) Ni2Al3Ho [112] and (d) Ni2AlHf [110]

 



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